デバイス・モデリング

半導体デバイス・モデリングのためのDC/RF測定／特性評価

概要

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Agilentでは、DC、CV、ノイズ、RF測定用のハードウェア／ソフトウェア・デバイス・モデリング・ソリューションを提供しています。

Agilentの測定システムは、AgilentのIC-CAP（Integrated Circuit Characterization and Analysis Program）ソフトウェアを使って、設定、制御、自動化を容易に実行できます。AgilentのIP-CAPは、業界最高のデバイス・モデリング測定／パラメータ抽出ソフトウェアであり、精密なDC、CV、Sパラメータ評価に基づいて、詳細なノンリニア・モデル・パラメータ・セットを抽出するために使用できます。IC-CAPでは、簡単に測定をセットアップし、回路シミュレーションと最適化を実行できます。また、Spectre、HSPICE、Eldo、AgilentのAdvanced Design System（ADS）などの 一般的なシミュレータのリストから回路シミュレータを選択できます。

RF/DCパラメータ測定ソリューション

推奨のIC-CAPデバイス・モデリング構成では、DC、CV、ノイズ、RFデバイス測定を実行できます。これらの構成には、半導体デバイスの正確な評価に必要なバイアス回路、ケーブル、アダプタが付属します。IC-CAPデバイス・モデリング構成は、Cascade Microtech社やSuss社などの主要なオンウェーハ測定用プローブ・ステーションと組み合わせて使用できます。

RF評価のためのSパラメータ測定には、AgilentのPNAネットワーク・アナライザが使用されます。DCおよびCV測定には、AgilentのB1500、4156またはE5720半導体パラメータ・アナライザが使用されます。Agilent 11612T/V-Kxx高周波バイアス回路は、測定システムと被試験デバイスとの間の容易なリモート接続を実現し、測定確度が向上します。詳細については、 デバイス・モデリング用推奨モデリング構成を参照してください。

オプションのインストール／スタートアップ支援

測定ハードウェアの統合、インストール、スタートアップの支援を追加サービスとして提供いたします。Agilent EEsof EDA窓口までお問い合わせください。

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