お問い合わせ窓口

ATE アプリケーション

テスト・システムのアーキテクチャは、選択肢の広いものでなければなりません。可能なシステムの範囲が、現在および将来にわたって、要件と好みと既存のテスト資産（測定器、ソフトウェア、I/O）に適合する必要があります。Agilent Open の強みはそこにあります。これはテスト自動化のための実証済みの規格と時間節約ツールを組み合わせたものです。LAN/Web から LXI ベースのシンセティック測定器まで、Agilent の ATE 製品はシステムの寿命を最大化することを目標に設計されています。

主な製品 概要
  シンセティック測定器 LXI の利点を活かした柔軟なアーキテクチャにより、ATS の寿命を延ばし、ライフタイム・コストを削減します。
  Agilent Open コストパフォーマンスの高いテスト・ソリューションを短時間で作成し、思い通りのテストを実現できます。
  Agilent LXI 測定器 実証済みの規格に基づいたアーキテクチャにより、テスト・システムの作成と構成変更を高速かつ効率的でコストパフォーマンスの高い方法により実現できます。
  MXA シリーズ・シグナル・アナライザ 性能を犠牲にせずに、他のシグナル・アナライザに比べて 30～300％ 高速な測定を実現します。
  PSA シリーズ・スペクトラム・アナライザ 8566/8568/856x アナライザとのコード互換性により、テスト・システムを容易に新機能でアップデートできます。
  MXG RF 信号発生器 スループットの向上、テスト歩留まりの向上、アップタイムの増加により、製造テストの問題に対応します。
  ENA シリーズ RF ネットワーク・アナライザ 基本的な低コストの S パラメータ測定から高度なマルチポート／平衡測定までのアプリケーションに対応します。
  PNA シリーズ・マイクロ波ネットワーク・アナライザ PNA-X アナライザと PNA-L アナライザのコード互換性により、研究開発から製造までテスト・システム・ソフトウェアを共用できます。
  Virtual Rack 7.8 対話的な方法で柔軟なシステム・フレームワークを作成することにより、システムのインテグレーション、自動化、メンテナンス、改良が容易です。
  電源／電子負荷 DC 電源、DC 電子負荷、AC 電源／アナライザの強力な解析機能により測定を実行できます。
  デジタル・マルチメータ／電圧計 軍事通信テストのニーズに応じたあらゆる種類のデジタル・マルチメータ／電圧計が用意されています。
  周波数カウンタ Agilent の周波数カウンタは、GPIB 経由で最大 200 回/s の測定速度により、さまざまな時間／周波数測定を実行できます。
  データ収集／システム・スイッチング Agilent のデータ収集ソリューションは、業界標準のソフトウェアとモジュラ・ハードウェアに基づいたもので、お客様の現在と将来のニーズに応えます。
  ファンクション／任意波形発生器 Agilent のファンクション・ジェネレータと任意波形発生器は、10 種類の標準波形と任意波形を発生できます。
  Agilent VXIbus 製品 Agilent の VXI 製品でフル機能の測定器品質モデルであり、テスト・コードの作成が容易です。
  自動テスト・システム／サービス Agilent の RF/マイクロ波測定システム、スイッチ・マトリクス、カスタム・システム開発

YouTubeビデオを見る 

関連リンク

絞込み

絞込みのリセット

コンテンツのタイプ

製品カテゴリ

1-2 / 2

並べ替え
Converting ATE Control from Agilent 83480A to 86100A (PN 86100-1) 
This application note gives you information about the 86100A syntax changes and new or enhanced commands. It also tells you the 83480A commands which are not supported by the 86100A.

アプリケーション・ノート 2000-02-01

PDF PDF 478 KB
LXI-compliant oscilloscope boosts efficiency in ATE systems 
The LXI (LAN eXtensions for Instrumentation) standard specifies the interaction of proven, widely used standards to enable fast, efficient, and cost-effective creation and reconfiguration of test systems.

アプリケーション・ノート 2007-04-02

PDF PDF 286 KB