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ATE アプリケーション

テスト・システムのアーキテクチャは、選択肢の広いものでなければなりません。可能なシステムの範囲が、現在および将来にわたって、要件と好みと既存のテスト資産(測定器、ソフトウェア、I/O)に適合する必要があります。Agilent Open の強みはそこにあります。これはテスト自動化のための実証済みの規格と時間節約ツールを組み合わせたものです。LAN/Web から LXI ベースのシンセティック測定器まで、Agilent の ATE 製品はシステムの寿命を最大化することを目標に設計されています。

主な製品 概要
  シンセティック測定器 LXI の利点を活かした柔軟なアーキテクチャにより、ATS の寿命を延ばし、ライフタイム・コストを削減します。
  Agilent Open コストパフォーマンスの高いテスト・ソリューションを短時間で作成し、思い通りのテストを実現できます。
  Agilent LXI 測定器 実証済みの規格に基づいたアーキテクチャにより、テスト・システムの作成と構成変更を高速かつ効率的でコストパフォーマンスの高い方法により実現できます。
  MXA シリーズ・シグナル・アナライザ 性能を犠牲にせずに、他のシグナル・アナライザに比べて 30~300% 高速な測定を実現します。
  PSA シリーズ・スペクトラム・アナライザ 8566/8568/856x アナライザとのコード互換性により、テスト・システムを容易に新機能でアップデートできます。
  MXG RF 信号発生器 スループットの向上、テスト歩留まりの向上、アップタイムの増加により、製造テストの問題に対応します。
  ENA シリーズ RF ネットワーク・アナライザ 基本的な低コストの S パラメータ測定から高度なマルチポート/平衡測定までのアプリケーションに対応します。
  PNA シリーズ・マイクロ波ネットワーク・アナライザ PNA-X アナライザと PNA-L アナライザのコード互換性により、研究開発から製造までテスト・システム・ソフトウェアを共用できます。
  Virtual Rack 7.8 対話的な方法で柔軟なシステム・フレームワークを作成することにより、システムのインテグレーション、自動化、メンテナンス、改良が容易です。
  電源/電子負荷 DC 電源、DC 電子負荷、AC 電源/アナライザの強力な解析機能により測定を実行できます。
  デジタル・マルチメータ/電圧計 軍事通信テストのニーズに応じたあらゆる種類のデジタル・マルチメータ/電圧計が用意されています。
  周波数カウンタ Agilent の周波数カウンタは、GPIB 経由で最大 200 回/s の測定速度により、さまざまな時間/周波数測定を実行できます。
  データ収集/システム・スイッチング Agilent のデータ収集ソリューションは、業界標準のソフトウェアとモジュラ・ハードウェアに基づいたもので、お客様の現在と将来のニーズに応えます。
  ファンクション/任意波形発生器 Agilent のファンクション・ジェネレータと任意波形発生器は、10 種類の標準波形と任意波形を発生できます。
  Agilent VXIbus 製品 Agilent の VXI 製品でフル機能の測定器品質モデルであり、テスト・コードの作成が容易です。
  自動テスト・システム/サービス Agilent の RF/マイクロ波測定システム、スイッチ・マトリクス、カスタム・システム開発

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ハイパワー信号の生成とメリット 
このアプリケーション・ノートでは、オプション521 搭載のPSGの内部動作とハイパワー信号のアプリケーションについて説明します。

アプリケーション・ノート 2009-10-22

Using MATLAB to Create Agilent Signal and Spectrum Analyzer Applications 
Learn to use MATLAB software to configure, control, and acquire data from X-Series signal and spectrum analyzers, and then use scripts to create, modify and execute custom analyzer applications.

アプリケーション・ノート 2009-09-03

PDF PDF 1.11 MB
ハイブリッド・テスト・システムの構築、パート2 
ハイブリッド・テスト・システムの構築、パート2

アプリケーション・ノート 2008-10-15

GPIBからLXIへの移行(システム・ソフトウェア編) 
本書は、相対的な性能の向上と、それを実現するための移行方法を説明します。相対的な違いを比較するために、サンプルを作成し、その性能を4種類のI/O手法で測定し、GPIBからLANへの移行後の性能レベルを予想しました。

アプリケーション・ノート 2007-03-07

スループットを向上させるRF信号源の高速スイッチング 
本書では、ATE内のRF信号発生器を最適化することにより、テスト時間を削減し、スループットを向上させる方法を紹介しています。

アプリケーション・ノート 2006-12-01

Using LAN in Test Systems: Applications (1465-14) - Application Note and Example Programs 
Topics include balancing cost, convenience and security in three common LAN scenarios: sharing instruments, remote monitoring and data acquisition, and functional test systems. Includes downloadable example programs.

アプリケーション・ノート 2005-04-01

 
Using LAN in Test Systems: Setting up System I/O (AN 1465-15) - Application Note 
This set of application notes shows you how to simplify test system integration by utilizing open connectivity standards such as local area networking (LAN). The collective goal of these notes is to help you produce reliable results, meet your throughput requirements and stay within your budget.

アプリケーション・ノート 2005-03-29

PDF PDF 263 KB
Test-System Understanding Drivers and Direct I/O (AN 1465-3) - Application Note 
This application note answers common questions about the use of drivers and direct I/O to send commands from a PC application to the test instrument.

アプリケーション・ノート 2004-12-21

PDF PDF 374 KB
Using SCPI and Direct I/O vs. Drivers (AN 1465-13) - Application Note 
Using SCPI and Direct I/O vs. Drivers, the fifth note in the series, outlines the relationship between input/output (I/O) software, application software and the ability to maximize instrument interchange and software reuse in present and future systems

アプリケーション・ノート 2004-12-13

PDF PDF 408 KB
Test-System Computer I/O Considerations (AN 1465-2) - Application Note 
The first application note in the series, Introduction to Test-System Design, covers test-system philosophy and planning and discusses how test is used in three sectors: R&D, design validation and manufacturing

アプリケーション・ノート 2004-12-09

PDF PDF 189 KB
Using USB in the Test and Measurement Environment (AN 1465-12) - Application Note 
Simplify test integration with USB interface. Whether you’re setting up an ad hoc system on a lab bench or designing a permanent solution for a manufacturing line, the three best choices today for connecting modern instrumentation to computers are GPIB, LAN, and USB.

アプリケーション・ノート 2004-11-19

PDF PDF 194 KB
System Developer Guide Using LAN in Test Systems - PC Configuration (AN 1465-11) - Application Note 
Using LAN in Test Systems: PC Configuration,the third note in the series, describes the additional capabilities required to enable communication between a PC and LAN-enabled instrumentation. This note is a companion to Application Notes 1465-9 and 1465-10.

アプリケーション・ノート 2004-10-19

PDF PDF 204 KB
Using LAN in Test Systems - Network Configuration (AN 1465-10) - Application Note 
The decision to use LAN in a test system delivers important benefits to your company and your team. From a business perspective, intense competition among equipment vendors has produced a wide selection of high quality, low-cost solutions for local area networking

アプリケーション・ノート 2004-09-14

Using LAN in Test Systems - The Basics (AN 1465-9) - Application Note 
The basic purpose of any test system is to characterize and validate the performance of electronic components, assemblies or products. The complexity of this task depends on variables such as the physical nature of the device under test (DUT), the number of tests to be performed, the number of signals to be measured and the desired time per test.

アプリケーション・ノート 2004-07-29

PDF PDF 270 KB
テスト・システムのソフトウェア・アーキテクチャ 
このアプリケーション・ノートでは、ソフトウェア・コンポーネントの設計、開発に必要な情報を提供しています。

アプリケーション・ノート 2004-07-14