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ATE 应用软件

您的测试系统架构应该为您提供多种选择,其测试范围应满足您现在和将来的测试要求、偏好和现有的测试设备条件――仪器、软件和 I/O。这正是强大的 Agilent Open 之优势所在,它将自动测试领域内业经验证的标准和节省时间的工具完美结合。从 LAN 和 Web 到基于 LXI 的合成仪器,我们的 ATE 旨在最大程度延长系统寿命和提高生产率。

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了解如何分析、验证和调试高速 DDR3 存储器 
Original broadcast Oct 4, 2011

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实现出色测量的数字转换器设计基础 
Live broadcast Mar 21, 2012; 10am Pacific / 1pm Eastern

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提升模块化仪器性能的网络研讨会 
Originally broadcast Oct 13, 2010

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Digitizer Design Fundamentals for Superior Measurements 
Original broadcast Mar 21, 2012

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Learn to Analyze, Validate and Debug High Speed DDR3 Memory 
Original broadcast Oct 4, 2011

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Multi-antenna Array Measurements Using Digitizers Webcast 
Original broadcast May 29, 2013

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