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テスト・システムの構築

Agilent - Build Your Own

Agilentのシステム・コンポーネントを使用すると、最初からシステムを構築する場合も、既存のシステムを構築し直す場合も、独自のシステムを容易に構築することができます。システム対応測定器、オープンなソフトウェア、PC標準I/O（LAN/USB/VXI/PXI）から、最適なツールを使って、最高のデザインを実現できます。以下のリンクの中から必要なリンクをクリックして参照し、Agilentのリソースやテスト機器を最大限に活用してください。

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GPIBからLXIへの移行（システム･ソフトウェア編) 本書は、相対的な性能の向上と、それを実現するための移行方法を説明します。相対的な違いを比較するために、サンプルを作成し、その性能を4種類のI/O手法で測定し、GPIBからLANへの移行後の性能レベルを予想しました。アプリケーション・ノート 2007-03-07	PDF 495 KB 言語 English \| 2007-02-02 \| PDF 175 KB 中文（简体） \| 2007-02-02 \| PDF 175 KB 日本語 \| 2007-03-07 \| PDF 495 KB 中文（繁體） \| 2007-02-02 \| PDF 175 KB
LAN/LXIを組み込むためのGPIBシステムの変更ほとんどの場合、比較的容易にGPIB測定器をLXIベースの機器に置き換えることができます。これは、LXIの大きな利点です。アプリケーション・ノート 2007-06-19	PDF 419 KB 言語 English \| 2007-05-10 \| PDF 271 KB 日本語 \| 2007-06-19 \| PDF 419 KB 中文（繁體） \| 2007-05-10 \| PDF 160 KB 한국어 \| 2007-05-10 \| PDF 160 KB
LXIによる次世代テスト・システムこのアプリケーション・ノートでは、LXIの利点を紹介するとともに、テスト・システムの適用範囲および機能について概説しています。アプリケーション・ノート 2005-06-10	PDF 781 KB 言語 English \| 2006-05-03 \| PDF 190 KB 中文（简体） \| 2005-08-01 \| PDF 1.33 MB 日本語 \| 2005-06-10 \| PDF 781 KB
テスト・システムのソフトウェア・アーキテクチャこのアプリケーション・ノートでは、ソフトウェア・コンポーネントの設計、開発に必要な情報を提供しています。アプリケーション・ノート 2004-07-14	PDF 791 KB 言語 English \| 2004-12-21 \| PDF 409 KB 中文（简体） \| 2006-09-01 \| PDF 1.09 MB 日本語 \| 2004-07-14 \| PDF 791 KB 中文（繁體） \| 2004-05-07 \| PDF 528 KB 한국어 \| 2004-05-07 \| PDF 528 KB
ハイブリッド・テスト・システムの構築、パート2 ハイブリッド・テスト・システムの構築、パート2 アプリケーション・ノート 2008-10-15	PDF 1020 KB 言語 English \| 2008-10-15 \| PDF 281 KB 中文（简体） \| 2008-10-15 \| PDF 281 KB 日本語 \| 2008-10-15 \| PDF 1020 KB
System Developer Guide Using LAN in Test Systems - PC Configuration (AN 1465-11) - Application Note Using LAN in Test Systems: PC Configuration,the third note in the series, describes the additional capabilities required to enable communication between a PC and LAN-enabled instrumentation. This note is a companion to Application Notes 1465-9 and 1465-10. アプリケーション・ノート 2004-10-19	PDF 204 KB
Test-System Computer I/O Considerations (AN 1465-2) - Application Note The first application note in the series, Introduction to Test-System Design, covers test-system philosophy and planning and discusses how test is used in three sectors: R&D, design validation and manufacturing アプリケーション・ノート 2004-12-09	PDF 189 KB
Test-System Understanding Drivers and Direct I/O (AN 1465-3) - Application Note This application note answers common questions about the use of drivers and direct I/O to send commands from a PC application to the test instrument. アプリケーション・ノート 2004-12-21	PDF 374 KB
Using LAN in Test Systems - Network Configuration (AN 1465-10) - Application Note The decision to use LAN in a test system delivers important benefits to your company and your team. From a business perspective, intense competition among equipment vendors has produced a wide selection of high quality, low-cost solutions for local area networking アプリケーション・ノート 2004-09-14	PDF 182 KB 言語 English \| 2004-09-14 \| PDF 182 KB 中文（简体） \| 2004-12-28 \| PDF 5.15 MB
Using LAN in Test Systems - The Basics (AN 1465-9) - Application Note The basic purpose of any test system is to characterize and validate the performance of electronic components, assemblies or products. The complexity of this task depends on variables such as the physical nature of the device under test (DUT), the number of tests to be performed, the number of signals to be measured and the desired time per test. アプリケーション・ノート 2004-07-29	PDF 270 KB
Using LAN in Test Systems: Applications (1465-14) - Application Note and Example Programs Topics include balancing cost, convenience and security in three common LAN scenarios: sharing instruments, remote monitoring and data acquisition, and functional test systems. Includes downloadable example programs. アプリケーション・ノート 2005-04-01
Using SCPI and Direct I/O vs. Drivers (AN 1465-13) - Application Note Using SCPI and Direct I/O vs. Drivers, the fifth note in the series, outlines the relationship between input/output (I/O) software, application software and the ability to maximize instrument interchange and software reuse in present and future systems アプリケーション・ノート 2004-12-13	PDF 408 KB
Using the VISA COM I/O API in .NET - Application Note The Microsoft .NET architecture has many features that make it an excellent environment for Test & Measurement programmers. VISA COM I/O is an update of the older VISA C API to work in and with COM technology. アプリケーション・ノート 2007-03-16	PDF 345 KB
Using USB in the Test and Measurement Environment (AN 1465-12) - Application Note Simplify test integration with USB interface. Whether you’re setting up an ad hoc system on a lab bench or designing a permanent solution for a manufacturing line, the three best choices today for connecting modern instrumentation to computers are GPIB, LAN, and USB. アプリケーション・ノート 2004-11-19	PDF 194 KB