製造テスト&自動検査

パラメトリック・テストの基礎トレーニング：パート1 Originally broadcast Sept 15, 2010 ウェブセミナ（録画）
Automating On-Wafer Measurements with the new Agilent IC-CAP WaferPro Originally broadcast Jan 27, 2011 ウェブセミナ（録画）
Innovations in EDA Webcast: Measurement-based FET modeling using Artificial Neural Networks (ANNs) Original broadcast Feb 2, 2012 ウェブセミナ（録画）
Parametric Test Basic Training Part 2 Originally broadcast Jan 19, 2011 ウェブセミナ（録画）
Setting Up IC-CAP WaferPro For On-Wafer Measurements originally broadcast June 22, 2011 ウェブセミナ（録画）