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制造与生产测试

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排序:
PXI 多厂商互操作性的重要性和价值 
Live broadcast March 28, 2012 10am PT

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PXI 自动测试系统整合的首要考虑因素 
Live broadcast Apr 24, 2012 10am PT

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PXI 自动测试系统整合的首要考虑因素 
Live broadcast Apr 24, 2012 10am PT

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PXI、AXIe、DAQ 和模块化解决方案网络研讨会系列 
Live broadcasts various dates in 2012

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“EDA 的创新”网络研讨会:使用人工神经网络(ANN)进行基于测量的 FET 建模 
Live broadcast Feb 2, 2012; 10AM Pacific / 1PM Eastern

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使用最新版本 Agilent IC-CAP WaferPro 自动进行晶圆上测量 
Originally broadcast Jan 27, 2011

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设置 IC-CAP WaferPro,以便进行晶圆上测量 
originally broadcast June 22, 2011

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高速数字器件的先进产品设计和测试,网上研讨会 
Original broadcast Jan 18, 2012

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Advanced Product Design & Test for High-Speed Digital Devices Webcast 
Original broadcast Jan 18, 2012

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Automating On-Wafer Measurements with the new Agilent IC-CAP WaferPro 
Originally broadcast Jan 27, 2011

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Driving Down Test Cost, Schedule & Risk with Smart Switching 
Original broadcast May 30, 2012

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Innovations in EDA Webcast: Measurement-based FET modeling using Artificial Neural Networks (ANNs) 
Original broadcast Feb 2, 2012

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Setting Up IC-CAP WaferPro For On-Wafer Measurements 
originally broadcast June 22, 2011

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The Importance and Value of PXI Multi-Vendor Interoperability 
Original broadcast March 28, 2012

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Tools and Tips for Ensuring Reliable Sensor Measurements and Logging Systems 
Original broadcast Mar 20, 2012

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Top Considerations to Integrating a PXI Automated Test System 
Original broadcast Apr 24, 2012

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