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ショートRambus(R)マザーボードのトレースとスモール・アウトラインRIMM(TM) の特性インピーダンスの測定 AN1304-4 
本アプリケーション・ノートでは、高速ディジタル信号の品質測定時に使用するテスト機器と代表的な測定方法について説明します。

アプリケーション・ノート 2002-09-30

PDF PDF 707 KB
言語 
タイム・ドメイン・リフレクトメトリによるマイクロストリップの特性評価 
本カタログは、プリント回路基板のもととなるマイクロストリップ線路の評価を実験例を引用して紹介しています。

アプリケーション・ノート 2001-01-31

PDF PDF 496 KB
言語 
タイム・ドメイン・リフレクトメトリの原理 AN1304-2 
本アプリケーション・ノートでは、タイム・ドメイン・リフレクトメトリの基本原理をご説明します。また、反射解析や基本的負荷のオシロスコープ表示など、TDR のより実用的な面もいつくか取り上げます。

アプリケーション・ノート 2000-03-01

PDF PDF 1.42 MB
言語 
高精度タイム・ドメイン・リフレクトメトリ 
システムが高速化し、コンポーネントの形状が小さくなると、基本的なTDR測定システムの精度や分解能の限界を越えてしまう場合があります。このアプリケーション・ノートでは、測定システムの適用限界や測定誤差の原因、精度を高めるための実践的な技術と有用な手法について説明しています。

アプリケーション・ノート 2004-04-20

PDF PDF 4.07 MB
言語 
High-Precision TDR with the Agilent 86100 DCA & Picosecond Pulse Labs 4020 Source Enhancement Module 
Learn how to build a high-precision time-domain reflectometry/time-domain transmission measurement system.

アプリケーション・ノート 2003-09-12

PDF PDF 288 KB
Impedance and Network Analysis Application List Application Note 
This document provides the information of unique and new solutions for impedance and network analysis with using Agilent impedance analyzers, LCR meters and ENA series network analyzers.

アプリケーション・ノート 2012-10-30

PDF PDF 1.11 MB
Non-Contact Measurement Method for 13.56 MHz RFID Tags Using the ENA/ENA-L Network Analyzer 
For engineers working in RFID antenna design and test, this note discusses a non-contact method for measuring resonant frequencies of RFIDs using a network analyzer.

アプリケーション・ノート 2009-02-20

PDF PDF 199 KB
Using a Network and Impedance Analyzer to Evaluate 13.56 MHz RFID Tags and Readers/Writers 
For engineers who work in RFID antenna design and test, this note discusses testing RFID antenna characteristics such as impedance and resonant-frequency with network and impedance analyzers.

アプリケーション・ノート 2012-02-08

PDF PDF 506 KB
言語