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EDA 创新:用于宽带系统的高性能数字预失真(DPD) 
Original broadcast Sept 1, 2011

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使用最新版本 Agilent IC-CAP WaferPro 自动进行晶圆上测量 
Originally broadcast Jan 27, 2011

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设置 IC-CAP WaferPro,以便进行晶圆上测量 
originally broadcast June 22, 2011

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Automating On-Wafer Measurements with the new Agilent IC-CAP WaferPro 
Originally broadcast Jan 27, 2011

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Innovations in EDA Webcast: Measurement-based FET modeling using Artificial Neural Networks (ANNs) 
Original broadcast Feb 2, 2012

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Innovations in EDA: High Performance Digital Pre-Distortion (DPD) for Wideband Systems 
Original broadcast Sept 1, 2011

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Setting Up IC-CAP WaferPro For On-Wafer Measurements 
originally broadcast June 22, 2011

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