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8つのヒントアナログRF信号発生器によるより優れた測定 
本書は、RFアナログ信号源を使用した測定の確度向上のためのガイドです。次のヒントをテスト・セットアップでご活用されて、確度向上にお役立てください。

アプリケーション・ノート 2000-04-21

PDF PDF 1.52 MB
言語 
Bluetooth　RF測定の基礎 
Bこのアプリケーション・ノートでは、Bluetooth RF 設計をテストし検証するための送信機および受信機の測定について説明します。

アプリケーション・ノート 2010-10-18

PDF PDF 2.30 MB
言語 
テスト・システムのソフトウェア・アーキテクチャ 
このアプリケーション・ノートでは、ソフトウェア・コンポーネントの設計、開発に必要な情報を提供しています。

アプリケーション・ノート 2004-07-14

PDF PDF 791 KB
言語 
ネットワーク・アナライザによる周波数変換デバイス測定に関する考察 AN 1287-7J(763KB) 
ミキサ、コンバータ、チューナなどの周波数変換デバイス(Frequency Translation Devices,FTDs)は、RF およびマイクロ波通信システムにおいて主要な役割を果たす重要なコンポーネントです。通信システムがより新しい高効率の変調...

アプリケーション・ノート 2001-10-10

PDF PDF 762 KB
言語 
ネットワーク・アナライザのダイナミック・レンジの意義と改善 ＡＮ1363-1 
各種マイクロ波デバイスを評価する場合、ネットワーク・アナライザのダイナミック・レンジをできる限り大きくすることは、非常に重要で、測定性能を判断する際に基本的なファクタになることがあります。ネットワー...

アプリケーション・ノート 2002-06-27

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言語 
ネットワーク・アナライザ測定を成功させる8つのヒントAN1291-1J 
ネットワーク・アナライザは信号源の周波数と同調レシーバを同時に掃引して、スティミュラス-レスポンス測定 を行ないます。これに対して瞬間的に、DUTからの信号の周波数とネットワーク・アナライザの周波数が完全...

アプリケーション・ノート 2002-06-27

PDF PDF
言語 
ハイブリッド・テスト・システムの構築、パート2 
ハイブリッド・テスト・システムの構築、パート2

アプリケーション・ノート 2008-10-15

PDF PDF 1020 KB
言語 
信号源の基礎 
現在の信号発生の課題にチャレンジする準備として、増幅器から安全性が高い通信システムまでのさまざまな製品をテストするのに必要な信号の基礎を取り上げます。これらの信号には単純なもので単一周波数の正弦波、...

アプリケーション・ノート 2001-09-21

PDF PDF 4.34 MB
8 Hints for Making Better Measurements Using RF Signal Generators Application Note 
This application provides 8 hints for improving the accuracy of your measurements using RF signal generators.

アプリケーション・ノート 2012-06-27

PDF PDF 1.35 MB
Optimizing Dynamic Range for Distortion Measurements 
This Product Note covers high dynamic range measurement techniques for the new PSA Performance Spectrum Analyzer Series. The Note describes the best way to use the PSA series to make distortion measurements such as ACP, intermodulation, and harmonic distortion.

アプリケーション・ノート 2011-10-27

PDF PDF
System Developer Guide Using LAN in Test Systems - PC Configuration (AN 1465-11) - Application Note 
Using LAN in Test Systems: PC Configuration,the third note in the series, describes the additional capabilities required to enable communication between a PC and LAN-enabled instrumentation. This note is a companion to Application Notes 1465-9 and 1465-10.

アプリケーション・ノート 2004-10-19

PDF PDF 204 KB
Test and Measurement Instrument Security 
This document describes security features and the steps to perform a security erase for select Agilent test and measurement instruments.

アプリケーション・ノート 2009-04-14

PDF PDF 167 KB
Test-System Computer I/O Considerations (AN 1465-2) - Application Note 
The first application note in the series, Introduction to Test-System Design, covers test-system philosophy and planning and discusses how test is used in three sectors: R&D, design validation and manufacturing

アプリケーション・ノート 2004-12-09

PDF PDF 189 KB
Test-System Understanding Drivers and Direct I/O (AN 1465-3) - Application Note 
This application note answers common questions about the use of drivers and direct I/O to send commands from a PC application to the test instrument.

アプリケーション・ノート 2004-12-21

PDF PDF 374 KB
Using LAN in Test Systems - Network Configuration (AN 1465-10) - Application Note 
The decision to use LAN in a test system delivers important benefits to your company and your team. From a business perspective, intense competition among equipment vendors has produced a wide selection of high quality, low-cost solutions for local area networking

アプリケーション・ノート 2004-09-14

PDF PDF 182 KB
言語 
Using LAN in Test Systems - The Basics (AN 1465-9) - Application Note 
The basic purpose of any test system is to characterize and validate the performance of electronic components, assemblies or products. The complexity of this task depends on variables such as the physical nature of the device under test (DUT), the number of tests to be performed, the number of signals to be measured and the desired time per test.

アプリケーション・ノート 2004-07-29

PDF PDF 270 KB
Using LAN in Test Systems: Applications (1465-14) - Application Note and Example Programs 
Topics include balancing cost, convenience and security in three common LAN scenarios: sharing instruments, remote monitoring and data acquisition, and functional test systems. Includes downloadable example programs.

アプリケーション・ノート 2005-04-01

 
Using LAN in Test Systems: Setting up System I/O (AN 1465-15) - Application Note 
This set of application notes shows you how to simplify test system integration by utilizing open connectivity standards such as local area networking (LAN). The collective goal of these notes is to help you produce reliable results, meet your throughput requirements and stay within your budget.

アプリケーション・ノート 2005-03-29

PDF PDF 263 KB
Using SCPI and Direct I/O vs. Drivers (AN 1465-13) - Application Note 
Using SCPI and Direct I/O vs. Drivers, the fifth note in the series, outlines the relationship between input/output (I/O) software, application software and the ability to maximize instrument interchange and software reuse in present and future systems

アプリケーション・ノート 2004-12-13

PDF PDF 408 KB
Using the VISA COM I/O API in .NET - Application Note 
The Microsoft .NET architecture has many features that make it an excellent environment for Test & Measurement programmers. VISA COM I/O is an update of the older VISA C API to work in and with COM technology.

アプリケーション・ノート 2007-03-16

PDF PDF 345 KB
Using USB in the Test and Measurement Environment (AN 1465-12) - Application Note 
Simplify test integration with USB interface. Whether you’re setting up an ad hoc system on a lab bench or designing a permanent solution for a manufacturing line, the three best choices today for connecting modern instrumentation to computers are GPIB, LAN, and USB.

アプリケーション・ノート 2004-11-19

PDF PDF 194 KB