与专家交流

控制与自动化

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排序：
Agilent VEE介绍 
学习如何使用安捷伦科技的可视化设计环境（Agilent VEE Pro）开发测试软件。

课堂培训

 
LXI 及当今市场状态 
Originally broadcast April 8, 2009

网上直播 -- 已存档的

 
PXI 多厂商互操作性的重要性和价值 
Live broadcast March 28, 2012 10am PT

网上直播

 
PXI 自动测试系统整合的首要考虑因素 
Live broadcast Apr 24, 2012 10am PT

网上直播

 
PXI 自动测试系统整合的首要考虑因素 
Live broadcast Apr 24, 2012 10am PT

网上直播

 
PXI、AXIe、DAQ 和模块化解决方案网络研讨会系列 
Live broadcasts various dates in 2012

网上直播

 
“EDA 的创新”网络研讨会：使用人工神经网络（ANN）进行基于测量的 FET 建模 
Live broadcast Feb 2, 2012; 10AM Pacific / 1PM Eastern

网上直播

 
使用安捷伦仪器进行测量与分析系统开发 
Original broadcast Nov 17, 2011

网上直播 -- 已存档的

 
使用最新版本 Agilent IC-CAP WaferPro 自动进行晶圆上测量 
Originally broadcast Jan 27, 2011

网上直播 -- 已存档的

 
全部的点播式网络研讨会录像 
Access the free, On-Demand (recorded) webcasts

网上直播

 
全部网络研讨会点播和录像 
Access the free, On-Demand (recorded) webcasts

网上直播

 
全部网络研讨会点播和录像 
Access the free, On-Demand (recorded) webcasts

网上直播

 
全部网络研讨会点播和录像 
Access the free, On-Demand (recorded) webcasts

网上直播

 
设置 IC-CAP WaferPro，以便进行晶圆上测量 
originally broadcast June 22, 2011

网上直播 -- 已存档的

 
高级Agilent VEE 
本课程将提供VEE Pro 7.0高级编程的详细指导、说明和培训。

课堂培训

 
高速数字器件的先进产品设计和测试，网上研讨会 
Original broadcast Jan 18, 2012

网上直播 -- 已存档的

 
.All Webcast On-Demand Recordings 
Access the free, On-Demand (recorded) webcasts

网上直播

 
Advanced Product Design & Test for High-Speed Digital Devices Webcast 
Original broadcast Jan 18, 2012

网上直播 -- 已存档的

 
Automating On-Wafer Measurements with the new Agilent IC-CAP WaferPro 
Originally broadcast Jan 27, 2011

网上直播 -- 已存档的

 
Calibration Webcast Series 
What is Calibration? Why Calibrate? What do you really need? What should you ask for? Should you care about measurement uncertainty? What should you get back from a Cal lab? Please attend if you’d like to learn the answers to these questions!

网上直播

 
Developing Measurement and Analysis Systems with Agilent Instruments Webcast 
Original broadcast December 4, 2012

网上直播 -- 已存档的

 
Driving Down Test Cost, Schedule & Risk with Smart Switching 
Original broadcast May 30, 2012

网上直播 -- 已存档的

 
EMC 2013 - IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility  
August 5- 9, 2013; Denver, CO

展览会

 
Innovations in EDA Webcast: Measurement-based FET modeling using Artificial Neural Networks (ANNs) 
Original broadcast Feb 2, 2012

网上直播 -- 已存档的

 
Setting Up IC-CAP WaferPro For On-Wafer Measurements 
originally broadcast June 22, 2011

网上直播 -- 已存档的

 

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