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部品、機器

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ショートRambus(R)マザーボードのトレースとスモール・アウトラインRIMM(TM) の特性インピーダンスの測定 AN1304-4 
本アプリケーション・ノートでは、高速ディジタル信号の品質測定時に使用するテスト機器と代表的な測定方法について説明します。

アプリケーション・ノート 2002-09-30

タイム・ドメイン・リフレクトメトリによるマイクロストリップの特性評価 
本カタログは、プリント回路基板のもととなるマイクロストリップ線路の評価を実験例を引用して紹介しています。

アプリケーション・ノート 2001-01-31

タイム・ドメイン・リフレクトメトリの原理 AN1304-2 
本アプリケーション・ノートでは、タイム・ドメイン・リフレクトメトリの基本原理をご説明します。また、反射解析や基本的負荷のオシロスコープ表示など、TDR のより実用的な面もいつくか取り上げます。

アプリケーション・ノート 2000-03-01

高精度タイム・ドメイン・リフレクトメトリ 
システムが高速化し、コンポーネントの形状が小さくなると、基本的なTDR測定システムの精度や分解能の限界を越えてしまう場合があります。このアプリケーション・ノートでは、測定システムの適用限界や測定誤差の原因、精度を高めるための実践的な技術と有用な手法について説明しています。

アプリケーション・ノート 2004-04-20

High-Precision TDR with the Agilent 86100 DCA & Picosecond Pulse Labs 4020 Source Enhancement Module 
Learn how to build a high-precision time-domain reflectometry/time-domain transmission measurement system.

アプリケーション・ノート 2003-09-12

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Magneto-Optical Disk Drive Research (PN 3) 
This 4-page Product Note describes how the Agilent 81100 family of pulse/pattern generators can be used together with an Agilent Infinium oscilloscope to help magneto-optical disk drive.

アプリケーション・ノート 2004-07-29

PDF PDF 275 KB