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* AMF2013 - 7月開催 / トレーニング・コース一覧アジレント電子計測　有料トレーニングコース一覧トレーニング資料 2013-05-07
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Medalistビーズ・プローブ・テクノロジー：アクセスが制限されているPCBのテスト・ソリューション録画されたWebキャストにて、Agilentの最新手法によりインサーキット・テストのカバレージが、いかに劇的に改善できるかを紹介しています。ウェブセミナ（録画）
Agilent 3070 Board Test Double Feature Webcast Originally broadcast Feb 24, 2011 ウェブセミナ（録画）
Agilent Board Test User Group Meeting 2013 – Cleveland, OH Cleveland, OH - May 15 & 16, 2013 セミナー
Boundary Scan Online Training Get up to speed on boundary scan! Access online training materials for boundary scan from the comfort of your desk! トレーニング資料 2010-01-28
Boundary Scan Test Methods for DDR Memories Originally broadcast May 18, 2010 ウェブセミナ（録画）
Improving PCB Test Coverage with Agilent’s i3070 Cover-Extend Technology Original broadcast Sept 29, 2011 ウェブセミナ（録画）
Learn about the latest i3070 ICT productivity tools from us, DeMille Research, and Derby Associates Originally broadcast Aug 24, 2010 ウェブセミナ（録画）
Predictive Test Coverage Tool Webcast – How to Quickly Determine Potential Test Coverage & Strategy Originally broadcast Oct 20, 2010 ウェブセミナ（録画）
Programming Static and Dynamic Data into a I2C EEPROM and Serial Flash on the 3070 Originally broadcast April 13, 2010; webex ウェブセミナ（録画）
Reduce Test Time, Increase Fault Coverage with the new Medalist i3070 Series 5 and the 8.1 Software Originally broadcast July 13, 2010 ウェブセミナ（録画）
Surviving State Disruptions Caused by Test: the “Lobotomy Problem” Originally broadcast Dec 9, 2010 ウェブセミナ（録画）