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器件建模

安捷伦为直流和射频半导体器件表征及建模提供硬件和软件解决方案。当前大多数领先的半导体制造商和集成器件制造商(IDMs)都采用安捷伦工具来获得器件建模方案,以便用于芯片 CMOS、Bipolar、混合砷化镓(GaAs)、氮化镓(GaN)和许多其它器件技术。

器件建模挑战

  • 随着器件几何尺寸越来越小,使用精确模型并控制器件处理性能中的统计变量这种需求显得越来越重要。
  • 电路设计人员需要在直流以及射频和微波频率范围内可以精确预测器件行为的模型。
  • 不同的处理技术需要大量的可以迅速适应独特程序的模型。
  • 建模测量通常耗时数个小时甚至数天,测量控制软件也必须与探测器和仪器协同工作,以便在不同温度条件下执行自动测量。

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“优化 PXI 模块化功能测试系统吞吐量”网络研讨会 
Originally broadcast April 27, 2011

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使用最新版本 Agilent IC-CAP WaferPro 自动进行晶圆上测量 
Originally broadcast Jan 27, 2011

网上直播 -- 已存档的

 
设置 IC-CAP WaferPro,以便进行晶圆上测量 
originally broadcast June 22, 2011

网上直播 -- 已存档的

 
Automating On-Wafer Measurements with the new Agilent IC-CAP WaferPro 
Originally broadcast Jan 27, 2011

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Fundamentals of Fast Pulsed IV Measurement Webcast 
Original broadcast January 9, 2014

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Fundamentals of Semiconductor Capacitance Measurement Webcast 
Original broadcast October 29, 2013

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Optimizing PXI Modular Functional Test System Throughput Webcast 
Originally broadcast April 27, 2011

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Setting Up IC-CAP WaferPro For On-Wafer Measurements 
Original broadcast June 22, 2011

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