X 參數

安捷倫 X 參數* 代表著高頻率設計之非線性網路參數的新類別。X 參數：

• 對於大信號和小信號、線性和非線性元件都適用。
• 當所有埠均處於大輸入功率位準時，可量測並分析元件產生之諧波的振幅和相對相位。
• 可正確分析阻抗不匹配和混頻特性，進而精確模擬堆疊式非線性 X 參數元件區塊，例如無線設計中的放大器和混頻器。
• 非線性向量網路分析儀 (NVNA) 和先進設計系統（ADS）2008 均包含 X 參數功能。
• X 參數模型支援可新增至 SystemVue 2010 中。SystemVue 可將 X 參數模型連接至射頻系統分析，以及完整的實體層基頻/DSP 模擬環境。
• X 參數模型支援可新增至 Genesys 射頻和微波模擬環境中，以便進行電路和系統設計。

安捷倫的 X 參數可幫助您面對射頻工程的關鍵挑戰，如堆疊式元件在大信號工作條件下的非線性阻抗差異、諧波混頻和非線性反射效應。X 參數可解決複雜的堆疊式問題： 如果分別量測一組元件的 X 參數，您可以計算 X 參數，然後便可得出由元件組成的任何堆疊式結構的非線性轉移函數。您通常需在諧波平衡模擬器環境中執行基於 X 參數的計算。

* X 參數是安捷倫科技的商標。X 參數格式與底層公式均對外公開並有文件記錄。 更多資訊，請參考 X 參數開放文件、商標使用及合作方式說明。