モバイル・コンピューティング・アプリケーション・ソリューション:MIPI
MIPI (Mobile Industry Processor Interface) Allianceは、携帯端末用の標準インタフェースを定義しました。Agilentは、MIPI AllianceのContributorメンバとして、また電子計測の世界的なリーダとして、MIPIテスト・インタフェース用の最先端のデジタル/RFテスト・ソリューションを提供しています。

Agilent MIPIテスト・インタフェース:詳細な解析、高い信頼性。
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製品カテゴリ
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Agilent DigRF v3 Products & Solutions
プレス資料 2008-03-03 |
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Agilent Introduces First-to-Market Functional Test Solution for MIPI D-PHY Standard Interconnects
プレス資料 2011-10-04 |
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Agilent Introduces Industry's First Digital Radio Frequency V4 Test Solution with Simultaneous Stimu
Agilent Technologies Inc. (NYSE: A) today announced the industry's first digital radio frequency (DigRF) V4 test solution with dual-capture capability.
プレス資料 2011-03-02 |
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Agilent Launches Industry's First Complete MIPI M-PHY Test Suite
プレス資料 2011-10-04 |
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Agilent Technologies Announces Industry's First MIPI M-PHY Transmitter Compliance Test Software
Agilent today announced the industry's first MIPI M-PHY compliance test software package for transmitter validation.
プレス資料 2011-09-28 |
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Agilent Technologies Expands Infiniium 9000 Series Lineup with 600-MHz Oscilloscopes
First Mixed-Signal Scope Supporting MIPI and SATA Applications
プレス資料 2009-10-01 |
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Agilent Technologies Introduces 6-GHz Signal Generators with Industry-Best Performance
Today's aerospace/defense environment requires enhanced radar performance to detect weak signals at long distances. To provide the pure and precise signals needed to test these designs, the MXG uses an innovative triple-loop synthesizer to deliver phase noise performance of -146 dBc/Hz at 1 GHz and 20 kHz offset. For developers of radar components such as mixers and analog-to-digital converters, the MXG also features industry-leading spurious performance of -96 dBc at 1 GHz.
プレス資料 2012-05-01 |
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Agilent Technologies Introduces Industry-First End-to-End DigRF V4 Measurement Solution for Mobile
プレス資料 2008-10-01 |
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Agilent Technologies' All-in-One MIPI D-PHY Test Platform Selected by ST Microelectronics
プレス資料 2011-10-04 |
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Agilent Technologies' All-in-One MIPI D-PHY Test Platform Selected by ST-NXP Wireless
プレス資料 2008-09-17 |
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Deep Memory and Raw Data Views Give Unprecedented Insight into Demanding CSI-2/DSI Designs
プレス資料 2012-06-12 |
