元件建模與特性分析

安捷倫提供完整的硬體和軟體解決方案，可用於半導體元件特性分析與建模。 現在大多數半導體大廠和整合式元件製造商 (IDM) 都採用安捷倫工具來建構元件建模解決方案，以便針對晶片 CMOS、Bipolar、混合砷化鎵 (GaAs)、氮化鎵 (GaN) 和許多其他元件技術進行測試。 準確的元件特性分析、精確先進的模型、有效的擷取及詳盡的驗證，是建立準確及強大模型庫的關鍵，也是設計成功的重要因素。

元件建模與特性分析挑戰

• 隨著元件尺寸越來越小，使用準確的模型並控制元件處理效能之統計變數，已變得越來越重要。
• 電路設計工程師需要能夠直流以及射頻和微波頻率範圍內，準確預測元件行為的模型。
• 不同的處理技術需要可因應不同處理程序，迅速進行調適的各種模型。
• 建模量測通常耗時數小時甚至幾天的時間，量測控制軟體也必須與探測器和儀器協同運作，以便在不同溫度條件下執行自動量測。