パッシブ相互変調(PIM)測定
パッシブ相互変調(PIM)は、2つ以上のハイパワー信号が入力されることによって、アンテナ、ケーブル、コネクタ、デュプレクサなどのパッシブ・コンポーネントで発生する相互変調歪みです。伝送経路でPIMが発生すると、無線通信システムの品質が低下します。
RF伝送パワーの増加、共有の共同アンテナによるマルチバンド動作、信号帯域幅の拡大(レシーバ帯域でPIMが発生する確率が上昇)など、無線通信業界における新しいテクノロジーの導入により、近年ではPIMが重要なパラメータとなりつつあります。
より高性能で低価格のテスト・ソリューションを実現していただくために、Agilentでは、ベクトル・ネットワーク・アナライザ(VNA)によるパッシブ・コンポーネントのPIM測定機能とSパラメータ測定機能を兼ね備えたソリューションを提供しています。
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Power Meters and Power Sensors - Brochure
This is a comprehensive brochure that covers Agilent’s wide range of power meters and sensors for RF and microwave applications.
ブローシャ 2013-02-05 |
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ENA series network analyzer based PIM and S-parameter measurement solution - QFS
This quick fact sheet introduces the key features of innovative solution with the ENA series that combines passive intermodulation (PIM) and S-parameter measurement capabilities.
プロモーション資料 2012-05-25 |
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Innovative Passive Intermodulation (PIM) and S-parameter Measurement Solution with the ENA
This application note introduces the solution that combines PIM and S-parameter measurements by using the vector network analyzer.
アプリケーション・ノート 2012-05-09 |
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E5072A ENAシリーズ ネットワーク・アナライザ 30 kHz ~ 4.5/8.5 GHz
技術概要 2011-11-29 |
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U2000 Series USB Power Sensors Flyer
This is a 4-page flyer that highlights the key features and specifications of the U2000 Series USB power sensors.
ブローシャ 2008-07-16 |
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