お問い合わせ窓口

高速バスおよびシリアル・インターコネクトのコンプライアンス

徹底的なコンプライアンス・テストによる、潜在的な問題の特定

長年にわたるトレーニングや経験を、実行するすべての測定に活かすことができます:業界の標準化委員会の委員を務めているAgilentの専門家が、コンプライアンス要件の定義付けを支援しています。これにより、紹介したツールを含め、弊社のツールの信頼性も保証されます。各業界規格に固有のソリューションを、以下のリンクから見つけることができます。Agilentが、最高のデザインの実現を支援。

1-22 / 22

並べ替え
DDR4 TdiVW/VdiVW Bit Error Rate Measurement or Understanding Bit Error Rate 
Importance of making BER measurement calculations to form a statistical measurement of total jitter to understand the design's data valid window result and design error rates.

アプリケーション・ノート 2013-01-24

PDF PDF 1.65 MB
ENAオプションTDRを使用した能動デバイスの効果的なホットTDR測定 

アプリケーション・ノート 2012-02-27

Agilent ソリューション・サービス一覧 - 高速デジタル 
Agilent ソリューション・サービス一覧 - 高速デジタル

カタログ 2012-02-01

 
Agilent PCI Express® のデザインとテスト:電気的特性からプロトコルまで 
PCI Express® は、ビデオやグラフィックなどの高速データ転送が必要なシステムに広く実装されてきました。最初は高性能のデスクトップ・システムやサーバ・システムに採用され、今ではエンベデッド・アプリケーションにも使用されています。

ブローシャ 2011-11-29

PDF PDF 2.02 MB
PCI Express Transmitter Electrical Validation and Compliance Testing - Application Note 
This application note is intended for digital designers and developers validating electrical performance of PCI Express-based designs and working toward electrical compliance of PCI Express products.

アプリケーション・ノート 2011-10-28

PDF PDF 1.01 MB
シリアルATA のより良いデザイン/テスト 
シリアルATA のより良いデザイン/テスト

ブローシャ 2011-08-08

PDF PDF 2.84 MB
ギガビット・デジタル・デザインの問題を解決 

ブローシャ 2010-07-20

PDF PDF 5.19 MB
Agilent Infiniium オシロスコープによるUSB 2.0 コンプライアンス・テスト 
本書では、InfiniiumによるLow Speed/Full Speed/Hi-Speed USBのテスト・ソリューションを紹介しています。

アプリケーション・ノート 2010-01-14

Agilent Infiniium オシロスコープによるUSB 2.0 コンプライアンス・テスト 
本書では、InfiniiumによるLow Speed/Full Speed/Hi-Speed USBのテスト・ソリューションを紹介しています。

アプリケーション・ノート 2010-01-14

PDF PDF 3.64 MB
Agilent Technologies DDR メモリのデザインとテスト:より良い方法 
DDR メモリのデザインの徹底的な評価と検証

ブローシャ 2009-10-29

PDF PDF 5.55 MB
DDRメモリのより良いデザイン/テスト 
DDR SDRAM は、コンピュータやエンベ ディッド・アプリケーションで広く実装 されています

ブローシャ 2009-07-17

PDF PDF 693 KB
Ensuring Compliance and Interoperability of DDR Designs 
The Joint Electronic Devices Engineering Council (JEDEC) specification requires a large number of test parameters to be verified for DDR compliance – a time-consuming exercise if you make the measurements manually.

アプリケーション・ノート 2008-12-19

PDF PDF 379 KB
Method of Implementation (MOI) for DisplayPort Sink Compliance Test 
Method of Implementation (MOI) for DisplayPort Sink Compliance Test

アプリケーション・ノート 2008-08-18

PDF PDF 1.87 MB
Agilent HDMI用テスト・ソリューション 
HDMIの認証テスト・センタ(ATC)のほとんどでAgilentのソリューションが採用されています。

ブローシャ 2008-01-08

PDF PDF 3.11 MB
Agilent Technologies and Fujitsu Microelectronics Pacific Asia Ltd. to Deliver Chipset Test Solution 

プレス資料 2007-10-24

 
PCI Express® 2.0用Agilent E2960Bシリーズ 
Agilentソリューションは、PCI Express®1.0/2.0用のx1~x16プロトコル・アナライザとLTSSMエクセサイザを組み合わせた完全な統合ソリューションです。

ブローシャ 2007-07-25

PDF PDF 1.79 MB
Automated USB 2.0 Receiver Compliance Test and Characterization with the Agilent N5990A 
Automated USB 2.0 Receiver Compliance Test and Characterization with the Agilent N5990A Software Platform: 8 pages

アプリケーション・ノート 2007-01-31

PDF PDF 272 KB
PCI Express® 2.0におけるフル・テスト・ソリューション 
物理層からリンク層およびトランザクション層まで、フルラインアップの試験ツールを提供できるのはアジレントだけ。

ブローシャ 2006-10-27

PDF PDF 2.19 MB
Automated PCI Express Receiver Compliance Test and Characterization with N5990A 
This product note shows how to use the test automation software platform to verify and debug your PCI Express bus designs. As an example, a multi-lane add-in card is used.

アプリケーション・ノート 2006-08-29

PDF PDF 444 KB
ParBERT 81250によるHDMIジッタ耐力テスト・ソリューション 
Agilent ParBERT 81250を使用すると、HDMIで完全なジッタ耐力テストを実行できます。

アプリケーション・ノート 2006-05-19

PCI Express設計検証ツール 
コンピュータ・サーバ・システムやデスクトップ・システム向けに多くの高速インターコネクト・テクノロジーが提案されていますが、最も関心が寄せられているのはPCI Expressです。

ブローシャ 2005-08-25

PDF PDF 3.43 MB
Characterizing High-Speed Optical Transmitters Compliance Testing with the Agilent 86100A AN: 1340-1 
This application note will focus on the testing of opticaltransmitters used by three communications technologies:SONET/SHD, Gigabit Ethernet, and Fibre Channel.

アプリケーション・ノート 2000-08-01