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元件建模與特性分析

安捷倫提供完整的硬體和軟體解決方案,可用於半導體元件特性分析與建模。 現在大多數半導體大廠和整合式元件製造商 (IDM) 都採用安捷倫工具來建構元件建模解決方案,以便針對晶片 CMOS、Bipolar、混合砷化鎵 (GaAs)、氮化鎵 (GaN) 和許多其他元件技術進行測試。 準確的元件特性分析、精確先進的模型、有效的擷取及詳盡的驗證,是建立準確及強大模型庫的關鍵,也是設計成功的重要因素。

元件建模與特性分析挑戰

  • 隨著元件尺寸越來越小,使用準確的模型並控制元件處理效能之統計變數,已變得越來越重要。
  • 電路設計工程師需要能夠直流以及射頻和微波頻率範圍內,準確預測元件行為的模型。
  • 不同的處理技術需要可因應不同處理程序,迅速進行調適的各種模型。
  • 建模量測通常耗時數小時甚至幾天的時間,量測控制軟體也必須與探測器和儀器協同運作,以便在不同溫度條件下執行自動量測。

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International Microwave Symposium (IMS) 2014 
June 1-16, 2014; Tampa Bay, Florida

展覽會

 
Optimizing PXI Modular Functional Test System Throughput Webcast 
Originally broadcast April 27, 2011

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