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* AMF2013 - 7月開催 / トレーニング・コース一覧アジレント電子計測　有料トレーニングコース一覧トレーニング資料 2013-05-07
* イベント・カレンダーアジレント電子計測のイベント、セミナ予定一覧セミナー
Medalistビーズ・プローブ・テクノロジー：アクセスが制限されているPCBのテスト・ソリューション録画されたWebキャストにて、Agilentの最新手法によりインサーキット・テストのカバレージが、いかに劇的に改善できるかを紹介しています。ウェブセミナ（録画）
お客様必見！「デジタイザ計測技術とその応用」に関するWebセミナ Original broadcast Mar 21, 2012 ウェブセミナ（録画）
ハイ・パワー・デバイスのテストの問題を解決する、新しいパワー・デバイス・アナライザ／カーブ・トレーサ　ウェブセミナ（録画）
移動無線機器用のバッテリ・ドレインの特性評価の解析このセミナーは、2.5/3Gハンドセット、無線LANおよびBluetoothデバイスなどの次世代通信機器のデザイン検証を担当するエンジニア向けです。トレーニング資料 2002-08-27
高速デジタル・デバイス用の高度な製品デザイン／テストのWebキャスト Original broadcast Jan 18, 2012 ウェブセミナ（録画）
.All Webcast On-Demand Recordings Access the free, On-Demand (recorded) webcasts ウェブセミナ
100G TX Designs - Tips & Techniques for Accurate Characterization Webcast Original broadcast on February 27, 2013 ウェブセミナ（録画）
60 GHz Power Amplifier Design for Wireless HDMI Originally broadcast Oct 13, 2009 - Access the .pdf file of the presentation ウェブセミナ（録画）
A Practical Approach to Verifying RFICs with Fast Mismatch Analysis Originally broadcast October 28, 2010 ウェブセミナ（録画）
ADS in 3D: Speed Your Design with Integrated 3D EM Simulation Originally broadcast March 24, 2010 ウェブセミナ（録画）
Advanced Product Design & Test for High-Speed Digital Devices Webcast Original broadcast Jan 18, 2012 ウェブセミナ（録画）
Agilent 3070 Board Test Double Feature Webcast Originally broadcast Feb 24, 2011 ウェブセミナ（録画）
Agilent Board Test User Group Meeting 2013 – Cleveland, OH Cleveland, OH - May 15 & 16, 2013 セミナー
Agilent EEsof EDA Customer Education and Services Brief overview of Agilent EEsof EDA Customer Education and Services. トレーニング資料 2010-08-11
Antenna Design Automation with Scripting and Parameterized EM Analysis Webcast Original broadcast February 7, 2013 ウェブセミナ（録画）
Antenna Measurement Basics Review the terminology, measurement types, errors sources and test considerations. Reprinted with the permission of Orbit/FR Inc. トレーニング資料 2004-03-03	PDF 1.11 MB
Application-focused Oscilloscope Measurements – Education Webcast Series Live broadcasts throughout 2013 ウェブセミナ
Assembled PCB Inspection: SJ Family - Archived Event and Seminar Material ウェブセミナ（録画）
Automated Stimulus & Current Drain Analysis for Validating/Optimizing Mobile Device Run Time customer viewable presentation トレーニング資料 2008-04-15	PDF 773 KB
Automating On-Wafer Measurements with the new Agilent IC-CAP WaferPro Originally broadcast Jan 27, 2011 ウェブセミナ（録画）
Back to Basics Part 2: Signal Generation Original broadcast Feb 29, 2012 ウェブセミナ（録画）
Basics of RF Amplifier Test With the Vector Network Analyzer Original broadcast Mar 13, 2012 ウェブセミナ（録画）
Battery Run-time: Innovative Measurements / Greater Insights Webcast Original broadcast April 30, 2013 ウェブセミナ（録画）

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