デジタル・デザインとインターコネクト規格
Agilentによる最高のデザインの支援。高速規格に対応し、お客様の高速デジタル・デザイン・サイクル(デザイン/シミュレーション/解析/デバッグ/コンプライアンス/シグナル・インテグリティ)に適合する、最適なソリューションをご検討いただけます。
絞込み
アプリケーション
- 高速デジタル (182)
- DDRメモリ (31)
- DisplayPort (23)
- イーサネット (10)
- ファイバーチャネル (10)
- HDMI (33)
- MHLのデザイン/テスト (2)
- PCI Express® (37)
- シリアルATA (SATA) (23)
- シリアル・アタッチドSCSI(SAS) (12)
- USB (2.0/3.0/Wireless) (67)
コンテンツのタイプ
- 仕様 (22)
- マニュアル (6)
- アプリケーション・ノート (211)
- ブローシャー、競合 (31)
- 製品選択、構成ガイド (2)
- ソリューション概要 (6)
- デモ (22)
- 記事、事例紹介 (10)
- カタログ (3)
- プレスリリース (57)
製品カテゴリ
1-25 / 370
|
U4301A PCI Express® 3.0 Analyzer Module - Data Sheet
Agilent's U4301A PCI Express® 3.0 analyzer module is a protocol analyzer supporting all PCIe applications from Gen1 - Gen3 and speeds from 2.5 GT/s (Gen1) - PCI 8 GT/s (Gen3), link widths X1-X16.
データシート 2013-05-08 |
|
|
Momentum Overview
Overview video of Agilent Momentum, the gold standard in 3D planar electromagnetic simulation that enables your design of optimum laminar structures.
デモ 2013-05-08 |
|
|
N5399B HDMI Electrical Performance Validation and Compliance Software - Data Sheet
Data sheet for the N5399B HDMI Electrical Performance Validation and Compliance Software
データシート 2013-05-07 |
|
|
ClioSoft Announces the Integration of SOS Design Data Management with Advanced Design System
ClioSoft's integrated solution offers ADS users seamlessly integrated revision control and enterprise design data management
プレス資料 2013-05-07 |
|
|
Press Releases for N5990A
Press Releases for N5990A
プレス資料 2013-05-06 |
|
|
Method of Implementation (MOI) for HDMI 1.4b Cable Assembly Test
Method of Implementation (MOI) for HDMI 1.4b Cable Assembly Test Using Agilent E5071C ENA Network Analyzer Option TDR.
アプリケーション・ノート 2013-04-24 |
|
|
Article series - Receiver Jitter Tolerance Testing with BERTS
Article series - Receiver Jitter Tolerance Testing with BERTS
プロモーション資料 2013-04-21 |
|
|
High Speed Digital Design and Simulation Videos on YouTube
Agilent EEsof EDA's High Speed Digital Design and Simulation video playlist on YouTube.
デモ 2013-04-19 |
|
|
Agilent EEsof EDAユーザ向けメールマガジン -- しみゅレター
アジレントEDAソリューションの技術情報やアプリケーション情報を定期的にお知らせするEメールニュースレターです。
ニュースレター 2013-04-17 |
|
|
USB3.0 (SuperSpeed USB)の概要と評価、測定 - 5
USB3.0 SuperSpeed Channel S-parameter Tables の見方について
アプリケーション・ノート 2013-04-14 |
|
|
EDA Support Services
Agilent Support Services for EDA Products offers customers several benefits otherwise not available. This service is designed to help you get the most out of your software purchases.
ブローシャ 2013-04-09 |
|
|
MOI for DisplayPort PHY CTS 1.2b Sink Tests
This document is provided "AS IS" and without any warranty of any kind, including, without limitation, any express or implied warranty of non-infringement, merchantability or fitness for a particular purpose. In no event shall VESA™ or any member of VESA be liable for any direct, indirect, special, exemplary, punitive, or consequential damages, including, without limitation, lost profits, even if advised of the possibility of such damages. This material is provided for reference only. VESA does not endorse any vendor’s equipment including equipment outlined in this document.
アプリケーション・ノート 2013-03-21 |
|
|
MOI for DisplayPort PHY CTS 1.2b Source Testing
This document is provided "AS IS" and without any warranty of any kind, including, without limitation, any expressed or implied warranty of non-infringement, merchantability or fitness for a particular purpose. In no event shall VESA™ or any member of VESA be liable for any direct, indirect, special, exemplary, punitive, or consequential damages, including, without limitation, lost profits, even if advised of the possibility of such damages. This material is provided for reference only. VESA does not endorse any vendor’s equipment, including equipment outlined in this document.
アプリケーション・ノート 2013-03-21 |
|
|
Tips for Making Better Memory Measurements – Video Series
Videos that show customers how perform a comprehensive, unique and extensive analysis in less time.
デモ 2013-03-18 |
|
|
Oscilloscope Probe Switching - BitifEye
Oscilloscope Probe Switching Solution from BitifEye and Agilent.
ソリューション概要 2013-03-18 |
|
|
Agilent Technologies Launches Recognition Program for EDA Experts
Agilent launches its Agilent Certified Expert recognition program for EDA experts. Eligible participants include individuals demonstrating a high level of expertise-both theoretical and practical-in applying Agilent EEsof EDA tools for product design and modeling.
プレス資料 2013-03-12 |
|
|
Agilent Method of Implementation (MOI) for DisplayPort Cable-Connector Assembly Compliance Test
Agilent Method of Implementation (MOI) for DisplayPort Cable-Connector Assembly Compliance Test Using Agilent E5071C ENA Network Analyzer Option TDR
アプリケーション・ノート 2013-02-18 |
|
|
IBIS AMIチャネル・シミュレーション・フローを用いたSERDESデザインについて
最新のチップ間リンクのシミュレーションでは、SPICEベースのアプローチに代わり、IBIS AMIチャネル・シミュレーション・フローに基いた新しいアプローチを採用する必要があります。
アプリケーション・ノート 2013-02-15 |
|
|
AgilentのMHLケーブル・コンプライアンス・テストの実装方法(MOI)
Agilent E5071C ENAネットワーク・アナライザのオプションTDRを使用した、AgilentのMHLケーブル・コンプライアンス・テストの実装方法(MOI) (リンク先は、英文です。)
アプリケーション・ノート 2013-02-14 |
|
|
Agilent Technologies Commits $90 Million Gift of Software to Georgia Institute of Technology
Agilent announces the largest in-kind software donation ever in its longstanding relationship with the Georgia Institute of Technology.
プレス資料 2013-02-04 |
|
|
Agilent Technologies and SiSoft Introduce Pre-Standard IBIS-AMI Modeling Guide
Agilent and Signal Integrity Software, Inc. (SiSoft) announce guidelines that enable system designers to use advanced jitter and broadband analog capabilities when modeling high-speed serial devices.
プレス資料 2013-01-29 |
|
|
DisplayPort 1.2 Link Layer Testing - FuturePlus
DisplayPort 1.2 Link Layer Testing Solution from FuturePlus and Agilent.
ソリューション概要 2013-01-26 |
|
|
DDR4 Memory Bus Protocol Analysis - FuturePlus
DDR4 Memory Bus Protocol Analysis from FuturePlus and Agilent.
ソリューション概要 2013-01-26 |
|
|
DDR4 TdiVW/VdiVW Bit Error Rate Measurement or Understanding Bit Error Rate
Importance of making BER measurement calculations to form a statistical measurement of total jitter to understand the design's data valid window result and design error rates.
アプリケーション・ノート 2013-01-24 |
|
|
Agilent Technologies to Demonstrate Newest High-Speed Digital Design and Test Solutions at DesignCon
Agilent announces it will demonstrate its high-speed digital design and test solutions at DesignCon, Jan. 28- 31, at the Santa Clara Convention Center (Booth 201).
プレス資料 2013-01-15 |
