제어 및 자동화

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AN1465-26 LAN/LXI를 포함하도록 GPIB 시스템 수정 이 어플리케이션 노트는 일반적인 GPIB 테스트 시스템에서 한 대의 계측기를 교체하는 프로세스를 안내하며 간단한 시스템 소프트웨어 변경을 통해 이러한 작업이 구현되는 방식을 보여줍니다. 어플리케이션 노트 2007-05-10	PDF 160 KB 언어 English \| 2007-05-10 \| PDF 271 KB 日本語 \| 2007-06-19 \| PDF 419 KB 中文（繁體） \| 2007-05-10 \| PDF 160 KB 한국어 \| 2007-05-10 \| PDF 160 KB
LXI(LAN eXtensions for Instrumentation)의 세 클래스 정의 LXI 표준은 한 테스트 시스템 내에서 쉽게 혼합 또는 정합시킬 수 있는 세가지 계측기 유형을 정의합니다. 어플리케이션 노트 2006-01-17
LXI: GPIB, PXI 및 VXI 능가: 주요 테스트 과제 극복 이 어플리케이션 노트에서는 LXI 표준의 주요 속성, 시스템 개발 시 주요 과제 및 LXI가 핵심 도전과제를 해결하는 방법 및 LXI 디바이스틀 통해 구현된 새로운 테스트 가능성에 대해 중점적으로 다루고 있습니다. 어플리케이션 노트 2006-01-17	PDF 308 KB 언어 English \| 2006-01-17 \| PDF 308 KB 中文（简体） \| 2006-07-01 \| PDF 838 KB 日本語 \| 2006-03-07 \| PDF 1.01 MB 中文（繁體） \| 2006-11-09 \| PDF 669 KB 한국어 \| 2006-01-17 \| PDF 308 KB
LXI로 전환해야 하는 이유: 시스템 향상을 구현하는 주요 장점 본 어플리케이션 노트는 LXI로 전환하도록 도와줍니다. 어플리케이션 노트에서는 LXI만을 선택하든지 아니면 LXI와 함께 GPIB, VXI 또는 PXI를 선택하든지 간에 다음 테스트 시스템 선택 시 LXI가 최상의 선택인 이유10가지를 설명합니다. 어플리케이션 노트 2006-03-15	PDF 189 KB 언어 English \| 2006-03-15 \| PDF 189 KB 中文（简体） \| 2006-07-01 \| PDF 800 KB 日本語 \| 2006-03-07 \| PDF 726 KB 中文（繁體） \| 2006-03-15 \| PDF 189 KB 한국어 \| 2006-03-15 \| PDF 189 KB
PC 마더보드 테스트를 위한 다중 바이어스 전압 시퀸싱 및 램핑 단순화 어플리케이션 노트 2004-10-22	PDF 57 KB 언어 English \| 2004-10-22 \| PDF 57 KB 中文（简体） \| 2005-04-01 \| PDF 366 KB 日本語 \| 2005-04-14 \| PDF 185 KB 中文（繁體） \| 2004-12-29 \| PDF 286 KB 한국어 \| 2004-10-22 \| PDF 57 KB
USB 계측기 제어에 Linux 사용 (AN 1465-30) 어플리케이션 노트 2007-11-07	PDF 259 KB 언어 English \| 2007-11-07 \| PDF 239 KB 日本語 \| 2008-04-09 \| PDF 719 KB 한국어 \| 2007-11-07 \| PDF 259 KB
몇 배 증가한 DC 입력 배터리 어댑터 테스트 처리능력 어플리케이션 노트 2004-10-22	PDF 80 KB 언어 English \| 2004-10-22 \| PDF 80 KB 中文（简体） \| 2005-04-01 \| PDF 645 KB 日本語 \| 2006-04-17 \| PDF 494 KB 中文（繁體） \| 2004-12-28 \| PDF 428 KB 한국어 \| 2004-10-22 \| PDF 80 KB
애질런트 34401A를 신형 34410A/34411A 고성능 디지털 멀티미터로 교체 본 어플리케이션 노트는 애질런트 34401A 6.5 디지털 멀티미터와 신형 34410A 및 34411A 6.5디지트 고성능 DMM의 차이에 대한 높은 수준의 개요를 제공합니다. 어플리케이션 노트 2005-11-15	PDF 298 KB 언어 English \| 2005-11-15 \| PDF 298 KB 中文（简体） \| 2005-12-01 \| PDF 1.35 MB 日本語 \| 2005-11-17 \| PDF 1.02 MB 中文（繁體） \| 2006-02-08 \| PDF 298 KB 한국어 \| 2005-11-15 \| PDF 298 KB
애질런트 N67xxA 모듈식 전원 시스템을 사용하여 애질런트 662xA를 대체하는 방법 662xA - N67xxA MPS 변환 안내 어플리케이션 노트 2004-02-10	PDF 316 KB 언어 English \| 2004-08-02 \| PDF 220 KB 中文（简体） \| 2004-08-02 \| PDF 220 KB 日本語 \| 2004-02-19 \| PDF 852 KB 中文（繁體） \| 2004-01-01 \| PDF 316 KB 한국어 \| 2004-02-10 \| PDF 316 KB
자동차 ECU 테스트 처리능력 향상 어플리케이션 노트 2004-10-22	PDF 58 KB 언어 English \| 2004-10-22 \| PDF 58 KB 中文（简体） \| 2005-04-01 \| PDF 416 KB 日本語 \| 2005-02-15 \| PDF 230 KB 中文（繁體） \| 2004-12-28 \| PDF 350 KB 한국어 \| 2004-10-22 \| PDF 58 KB
테스트 시스템 개발 가이드: 테스트 시스템 소프트웨어 아키텍쳐 선택하기 어플리케이션 노트 2004-05-07	PDF 528 KB 언어 English \| 2004-12-21 \| PDF 409 KB 中文（简体） \| 2006-09-01 \| PDF 1.09 MB 日本語 \| 2004-07-14 \| PDF 791 KB 中文（繁體） \| 2004-05-07 \| PDF 528 KB 한국어 \| 2004-05-07 \| PDF 528 KB
10 Hints for Using Your Power Supply to Decrease Test Time Learn how to get the most from your power products by reading this 12-page booklet. When you're trying to boost throughput in time-critical production test systems, a small change in the way you operate or program a supply can have a surprising impact on test speeds. Specifically, the booklet... 어플리케이션 노트 1999-10-12	PDF 3.18 MB 언어 English \| 1999-10-12 \| PDF 3.18 MB 中文（简体） \| 1999-10-12 \| PDF 3.18 MB 日本語 \| 2002-03-13 \| PDF 3.18 MB
3070 Board Tests are Reliable, Repeatable and Transportable. Here's Why. It would take a very long paper to discuss all of the factors that make Agilent 3070 tests so reliable, repeatable, and transportable. This paper selects a few of the important ones. 어플리케이션 노트 2001-08-15	PDF 223 KB
3070 In System Programming (ISP) Family On Board Programming, Bottom Line Benefits 어플리케이션 노트 2002-07-25	PDF 200 KB
3070 Increasing Throughput There are decisions one can make that causes an Agilent 3070 test program to be slower or faster than what Test Consultant generates automatically. This paper offers many tips about how to optimize your system's performance. 어플리케이션 노트 1997-03-03	PDF 41 KB
3070 Series 3 Flash70 Programming Guide This guide contains information about the procedures, tasks, and syntax required to perform flash programming with HP 3070 test systems. 어플리케이션 노트 2001-09-12	PDF 1.85 MB
3D Inline Solder Paste Inspection - Benefit Realized 100% solder paste inspection helps to reduce the contribution from the print process to solder joint defects. 어플리케이션 노트 2003-06-01	PDF 59 KB
5DX Virus Protection Software Policy Agilent recognizes that customers require data protection for their PC workstations and computer controlled manufacturing equipment such as the 5DX Test System and associated workstations. 어플리케이션 노트 2004-08-26
6 Hints for Enhancing Measurement Integrity in RF/Microwave Test Systems 어플리케이션 노트 2012-04-30	PDF 374 KB 언어 English \| 2012-04-30 \| PDF 374 KB 中文（简体） \| 2005-10-05 \| PDF 1.43 MB 日本語 \| 2012-05-14 \| PDF 473 KB
8 Hints for Debugging Siemens MCU-based Designs A new type of instrument, the mixed signal oscilloscope (MSO), closes the gap in MCU debugging tools. The Agilent 54645D from Hewlett-Packard combines two analog scope channels with 16 digital logic channels, so you can monitor analog and digital lines at the same time. This MSO offers more... 어플리케이션 노트 1998-11-01	PDF 736 KB
8 More Hints for Making Better Scopes Measurements This Application Note contains a variety of hints to help you understand and improve your use of oscilloscopes. It includes the following 8 hints: 1. Don't forget to check that probe 2. A quick, easy way to troubleshoot mixed hardware/software prototypes 3. Using scopes to measure noisy signals 4... 어플리케이션 노트 1999-12-01	PDF 840 KB
A Comparison of Leading Switch/Measure Solutions This application note compares the features, execution speed and ease of software development for switch/measure solutions used in functional test and data acquisition environments. 어플리케이션 노트 2005-01-27	PDF 241 KB 언어 English \| 2005-01-27 \| PDF 241 KB 中文（简体） \| 2006-08-01 \| PDF 790 KB 日本語 \| 2005-02-28 \| PDF 645 KB
A New Process for Measuring and Displaying Board Test Coverage Written by Kenneth P. Parker, Agilent Technologies. First presented at Apex 2003, Anaheim, California. 어플리케이션 노트 2003-01-01	PDF 116 KB
A Quality Test Demands A Quality Fixture A Check List for getting a quality board test fixture first time, every time. 어플리케이션 노트 2001-05-16	PDF 26 KB
Agilent 3070 Now Powered by Industrial PC Controllers The Agilent 3070 is now controlled by PCs similar to others used in your production and office environment lowering system administration and learning costs. 어플리케이션 노트 2003-01-23	PDF 207 KB

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