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Burn-In Test - LXinstruments 
Burn-in Testing Solutions from LXinstruments and Agilent.

ソリューション概要 2012-12-04

 
PXI Functional Test - TTCI 
PXI Functional Test Solution from TTCI and Agilent

ソリューション概要 2012-08-03

 
Functional Test - TTCI 
Functional Test Solutions from TTCI and Agilent.

ソリューション概要 2012-07-24

 
LXI Functional Test - LXinstruments 
LXI Functional Test Solutions from LXinstruments and Agilent.

ソリューション概要 2012-06-22

 
Automotive Radar Test - Konrad 
Automotive Radar Test Solution from Konrad and Agilent.

ソリューション概要 2012-06-12

 
Modular Functional Test – Circuit Check 
Modular Functional Test Solutions from Circuit Check and Agilent

ソリューション概要 2012-06-09

 
RF/マイクロ波テストシステムのテスト品質向上のための6ヒント 
RF/マイクロ波テスト・システムを構築する際には、性能、スピード、再現性という普遍的な3つの要素が互いに関連し合います。このアプリケーション・ノートでは、このようなトレードオフを解決するための6つのヒントを提供します。

アプリケーション・ノート 2012-05-14

PDF PDF 473 KB
言語 
Test Instrument Emulator - WinSoft 
Test Instrument Emulation Solution from WinSoft and Agilent.

ソリューション概要 2012-05-11

 
Test-System Development Guide: A Comprehensive Handbook for Test Engineers 
Test-System Development Guide

アプリケーション・ノート 2012-05-07

PDF PDF 5.04 MB
言語 
Power Supply Test – FineTest 
Power Supply Test Solutions from FineTest and Agilent

ソリューション概要 2012-03-14

 
Using .NET Methods to Add Functionality to IVI-COM Drivers  
This application note discusses the use of .NET methods to add functionality to IVI-COM drivers to access a deeper set of instrument functionality with minimal programming.

アプリケーション・ノート 2012-03-01

PDF PDF 335 KB
言語 
ECN article: Remote Wireless Test With LXI 
Article reprinted with approval from ECN magazine.

記事 2012-02-28

 
Self-diagnosing Switch Matrix Video (3min) 

デモ 2010-11-14

 
The LXI System You Didn’t Know You Were Using  
The Evaluation Engineering article talks about the strength and stealth of LXI and Ethernet connectivity.

記事 2010-11-10

 
LXI Instrumentation applied to bioanalytical electrical characterization 

記事 2010-11-09

 
Agilent LXIのブローシャ 
Agilent LXIブローシャは、お客様の製品にとって最も重要な性能と信頼性に焦点を当てています。

ブローシャ 2010-01-20

 
LXI Press Releases 

プレス資料 2010-01-04

 
Agilent GPIB 測定器をNational Instrument 社のLabVIEW 環境で使用する際のヒント 

アプリケーション・ノート 2009-05-25

PDF PDF 1.12 MB
言語 
Getting Test Programs Up and Running Quickly with Driver Tracing and I/O Monitor 
This note helps you create an example program and then shows you how to use driver tracing and IO Monitor to examine, verify and troubleshoot I/O activity in IVI-COM drivers.

アプリケーション・ノート 2009-05-05

PDF PDF 415 KB
言語 
テスト・システムでのIVI ドライバの評価:：IVI が最適な場合 
このアプリケーション・ノートでは、IVI ドライバがシステムに適しているかどうかを判定できるように、テクノロジーの概要といくつかの注意 事項、およびトレードオフについて説明します。

アプリケーション・ノート 2009-01-08

PDF PDF 883 KB
言語 
ハイブリッド・テスト・システムの構築、パート2 
ハイブリッド・テスト・システムの構築、パート2

アプリケーション・ノート 2008-10-15

PDF PDF 1020 KB
言語 
Agilent LXI Class-B E5818A Trigger Box - Understanding Its Capability and Use Cases 
Learn more about the LXI Class B E5818A trigger box and its capabilities through this white paper. You will also discover how to create a precise time synchronization system over LAN or enhance trigger operations applications.

アプリケーション・ノート 2008-07-25

PDF PDF 424 KB
34945A/L4445A/L4490A/L4491A構成ガイド 

構成ガイド 2008-07-24

PDF PDF 1.49 MB
言語 
革新的な電源、ラック・スペースを節約 
これまで、多くの中パワー・レンジ（500 W～2 kW）のプログラマブル・システムDC電源が、高さ2U（2-EIAラック・ユニット）および3Uのフル・ラック・サイズのシャーシにパッケージ化されてきました。

アプリケーション・ノート 2008-06-04

 
High Node Count Fixturing Solutions for Agilent Short-Wire Test Fixtures 
This paper discusses problems encountered in building large, high node count vacuum actuated test fixtures for the Agilent 3070 family of board test systems.

アプリケーション・ノート 2008-04-30

PDF PDF 67 KB

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