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インピーダンス

インピーダンス測定は、パッシブ・コンポーネント業界だけでなく、材料、電源などのさまざまな業界で必要とされています。キャパシタンス(C)、インダクタンス(L)、抵抗(R)などのパラメータは、インピーダンスに基づいて測定されます。また、材料パラメータ(誘電率:ε、透磁率:μ)もインピーダンスの測定値から導出されます。Agilentは、インピーダンス・テスト機器およびテスト・アクセサリを豊富に提供して測定を支援しています。Agilentのインピーダンス測定製品は、より正確で信頼性の高いテスト結果を提供します。

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On-Wafer High Power Load Pull Measurements – bsw TestSystems 
On-Wafer High Power Load Pull Measurement Solution from bsw TestSystems and Agilent

ソリューション概要 2014-04-16

 
Automated LAN Cable Test System - Beta LaserMike 
Automated LAN Cable Testing Solution from Beta LaserMike and Agilent.

ソリューション概要 2014-04-09

 
Mobile Phone Load Pull Measurements - Maury Microwave 
Automated Mobile Phone Load Pull Measurement Solution from Maury Microwave and Agilent

ソリューション概要 2014-04-02

 
Impedance Matching with Vector Receiver Load Pull Measurements - Maury Microwave 
Impedance Matching with Vector Receiver Load Pull Measurements from Maury Microwave and Agilent

ソリューション概要 2014-04-02

 
Impedance Matching for High Power Devices - Maury Microwave 
Impedance Matching of High Power Devices with Active and Hybrid Load Pull Measurements from Maury Microwave and Agilent

ソリューション概要 2014-04-02

 
Agilent LCRメータおよびインピーダンス・アナライザを用いた誘電率/透磁率の測定ソリューション 
LCRメータおよびインピーダンス・アナライザを用いた誘電率/透磁率の測定ソリューション

アプリケーション・ノート 2014-03-17

自動片面TDR測定システム HT6060 
マイクロクラフト

ソリューション概要 2013-05-13

 
物理層テスト・システム PLTS2013 高速デジタル基板、コネクタ、ケーブル 設計/評価エンジニア向け 
実環境で直面する様々な問題に対応し、デザイン解析、トラブルし・シューティングを統合的に扱え、生産性が大幅に向上します

ブローシャ 2013-03-18

PDF PDF 678 KB
物理層テスト・システム PLTS2013 高速デジタル基板、コネクタ、ケーブル 設計/評価エンジニア向け 
実環境で直面する様々な問題に対応し、デザイン解析、トラブルシューティングを統合的に扱え、生産性が大幅に向上します

ブローシャ 2013-03-11

PDF PDF 689 KB
Impedance and Network Analysis Application List Application Note 
This document provides the information of unique and new solutions for impedance and network analysis with using Agilent impedance analyzers, LCR meters and ENA series network analyzers.

アプリケーション・ノート 2012-10-30

PDF PDF 1.11 MB
インピーダンス測定 アクセサリ・ガイド 
インピーダンス測定用アクセサリ・カタログです。

セレクション・ガイド 2012-05-14

EMI簡易測定システム Agilent Technologies and TOYO Corporation 

ブローシャ 2011-05-20

PDF PDF 661 KB
Impedance Measurements - Evaluating EMC Components with DC Bias Superimposed 
This application note gives an overview on how to evaluate electromagnetic compatible (EMC) components in a way that satisfies strict EMC requirements. It also introduces various EMC measurement solutions.

アプリケーション・ノート 2009-02-03

PDF PDF 1.33 MB
Balanced Circuit Measurement with an Impedance Analyzer/LCR Meter/Network Analyzer (AN 346-2) 
This application note describes the difference between a balanced circuit and an unbalanced circuit, and also explains how to make an unbalanced circuit measurement by the unbalanced instrument step by step.

アプリケーション・ノート 2008-04-10

PDF PDF 116 KB
Contact Resistance and Insulation Resistance Measurements of Electromechanical Components (AN1305-1) 
This application note describes the contact resistance and insulation resistance measurement of mechanical components.

アプリケーション・ノート 2008-04-03

PDF PDF 119 KB
インピーダンス測定器によるMEMS デバイス開発/製造効率の改善 
Agilent は、MEMS/NEMS デバイスのテスト効率が向上する測定器をいくつか提供しています。これらのデザインおよび製造プロセス全体を通して、最先端のインピーダンス手法が使用されています。

ブローシャ 2008-01-23

PDF PDF 1.85 MB
4294A/E4991Aインピーダンス・アナライザを使用した、MEMS磁気インピーダンス・センサの特性評価 
このアプリケーション・ノートでは、Agilentのインピーダンス・アナライザを使用して、MEMS磁気インピーダンス(MI)センサのデバイスを評価する際の利点、幅広いデザイン自動化ツール/機能、デザイン効率の向上について、簡単に説明します。

アプリケーション・ノート 2007-07-04

E4991A テクニカル・オーバービュー 
Agilent Technologies E4991Aは、高確度かつ再現性を求められる高周波でのインピーダンス測定、および電子材料(誘電率、透磁率)の評価においてその真価を発揮する製品です。

技術概要 2004-10-22

4294A テクニカル・オーバービュー 
Agilent Technologies 4294A プレシジョン・インピーダンス・アナライザは、電子材料・電子部品から非電気の材料に至るまで、あらゆる対象物の厳密なインピーダンス測定・解析に大きく貢献するプレシジョン・インピーダンス・アナライザです。

技術概要 2004-05-01

ENAとInter-Continental Microwave(ICM)社製テスト・フィクスチャを使用したSMD部品のインピーダンス特性評価 
このアプリケーション・ノートでは、ENAとICM社製テスト・フィクスチャ(TF-3001-S)を使用したTRL校正手順や、SMDの評価を行う場合の注意点、そしてインピーダンス・パラメータ・ディスプレイ・ソフトウェアを使用したSMDのインピーダンス測定について説明します。

アプリケーション・ノート 2004-01-05

EDA ツールとE4991A RF インピーダンス/マテリアル・アナライザを用いて実現する設計時間の短縮(A/N1369-5) 
本プロダクト・ノートでは、Agilent Technologies E4991A とAgilent EDAツールを組合わせたソリューションにより、受動部品の等価回路解析や、機器設計に要する時間の短縮を実現する方法について提案しております。

アプリケーション・ノート 2003-12-15

インピーダンス測定ハンドブック 2003年11月版 
本ハンドブックでは、インピーダンス測定の基本原理から応用例までを詳細に解説し、インピーダンス測定に必要な技術情報を全て網羅しています。

アプリケーション・ノート 2003-10-31

LFインピーダンス測定の技術限界を超える4294Aの新技術 PN4294-2 
本プロダクト・ノートでは、周波数範囲拡大に成功したLF帯インピーダンス測定の新たな可能性を広げたAgilent Technologies 4294A プレシジョン・インピーダンス・アナライザをとりあげ、自動平衡ブリッジ法の技術革新について解説しております。

アプリケーション・ノート 2003-07-03

MOSキャパシターのゲート酸化膜のC-V特性評価(PN4294-3) 
As a result of extremely high integration of logic LSIs, MOS FETs with gate lengths of 0.1 ?m or less have been produced recently. A consequence of this miniaturization has been the need for very thin gate oxide layers.

アプリケーション・ノート 2003-06-25

4338B、4339Bを用いた接続部品の接触抵抗、絶縁抵抗測定 
本プロダクト・レポートでは、Agilent 4338Bミリオームメータおよび4339Bハイレジスタンスメータを用いた信頼性の高い効率的な接触抵抗測定、絶縁抵抗測定の利点をご紹介します。

アプリケーション・ノート 2003-05-03

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