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阻抗

在被動元件產業，以及在材料、電源供應等眾多產業中，阻抗量測都佔有重要的地位。 比方說，電容 (C)、電感 (L) 和電阻 (R) 等物理參數，皆以阻抗為基礎進行量測。 此外，還可經由阻抗量測推導出材料參數（介電常數： ε，磁導率： μ）。 安捷倫提供完整的阻抗測試設備和測試配件，可協助您進行量測。 當您選擇安捷倫的阻抗量測產品，除了獲得準確可靠的測試結果外，還能享有更多的支援服務。

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Evaluation of MOS Capacitor Gate Oxide C-V Characteristics Using the Agilent 4294A(PN4294-3) 
As a result of extremely high integration of logic LSIs, MOS FETs with gate lengths of 0.1 mm or less have been produced recently. A consequence of this miniaturization has been the need for very thin gate oxide layers.

應用手冊 2003-06-26

PDF PDF 1.01 MB
語言 
Impedance Measurement Handbook 
Impedance measurements basics using Agilent Technologies' LCR meters and impedance analysers.

應用手冊 2009-06-17

PDF PDF 2.02 MB
語言 
Multifrequency C-V Measurements of Semiconductors (AN 369-5) 
The Agilent 4284A has a DC bias capability of +/- 40V and a wide frequency cover age of 20 Hz - 1 MHz, which enable us to make semiconductor C-V measurements.

應用手冊 2008-12-10

PDF PDF 283 KB
語言