インピーダンス
インピーダンス測定は、パッシブ・コンポーネント業界だけでなく、材料、電源などのさまざまな業界で必要とされています。キャパシタンス（C）、インダクタンス（L）、抵抗（R）などのパラメータは、インピーダンスに基づいて測定されます。また、材料パラメータ（誘電率：ε、透磁率：μ）もインピーダンスの測定値から導出されます。Agilentは、インピーダンス・テスト機器およびテスト・アクセサリを豊富に提供して測定を支援しています。Agilentのインピーダンス測定製品は、より正確で信頼性の高いテスト結果を提供します。
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ENAとInter-Continental Microwave(ICM)社製テスト・フィクスチャを使用したSMD部品のインピーダンス特性評価
このアプリケーション・ノートでは、ENAとICM社製テスト・フィクスチャ（TF-3001-S）を使用したTRL校正手順や、SMDの評価を行う場合の注意点、そしてインピーダンス・パラメータ・ディスプレイ・ソフトウェアを使用したSMDのインピーダンス測定について説明します。
アプリケーション・ノート 2004-01-05 |
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4285A 製造・品質管理部門におけるRF コイルの高確度・高速選別AN369-10
このアプリケーション・ノートでは、4285Aを用いることにより、RF コイルの測定・選別段階で大幅なローコスト化、高品質化を実現する方法と、その具体例を紹介します。
アプリケーション・ノート 2003-01-24 |
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4294A/E4991Aインピーダンス・アナライザを使用した、MEMS磁気インピーダンス・センサの特性評価
このアプリケーション・ノートでは、Agilentのインピーダンス・アナライザを使用して、MEMS磁気インピーダンス（MI）センサのデバイスを評価する際の利点、幅広いデザイン自動化ツール／機能、デザイン効率の向上について、簡単に説明します。
アプリケーション・ノート 2007-07-04 |
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4294Aを用いた信頼性の高い電子部品・回路評価 PN4294-1
本プロダクト・ノートでは、Agilent Technologies 4294A プレシジョン・インピーダンス・アナライザを用いた信頼性の高い電子部品や、電子回路の評価方法について説明しております。
アプリケーション・ノート 2000-04-20 |
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4338B、4339Bを用いた接続部品の接触抵抗、絶縁抵抗測定
本プロダクト・レポートでは、Agilent 4338Bミリオームメータおよび4339Bハイレジスタンスメータを用いた信頼性の高い効率的な接触抵抗測定、絶縁抵抗測定の利点をご紹介します。
アプリケーション・ノート 2003-05-03 |
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E4991ARFインピーダンス／マテリアル・アナライザ PN E4991A-1
本プロダクト・ノートでは、Agilent Technologies E4991A RFインピーダンス/マテリアル・アナライザの製品概要、RF帯におけるチップ部品評価の問題点と解決策、そしてE4991Aが提供する効率的な測定環境についての説明をしております。
アプリケーション・ノート 2001-06-11 |
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EDA ツールとE4991A RF インピーダンス/マテリアル・アナライザを用いて実現する設計時間の短縮（A/N1369-5）
本プロダクト・ノートでは、Agilent Technologies E4991A とAgilent EDAツールを組合わせたソリューションにより、受動部品の等価回路解析や、機器設計に要する時間の短縮を実現する方法について提案しております。
アプリケーション・ノート 2003-12-15 |
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LCR メータによる効果的なトランス／コイル測定(AN1305-3)
近年の電子機器/デジタル回線の発展に伴い、機器の小型化、低消費電力化、高品質化に貢献するトランス/コイルの生産量が増加しており、生産ラインや受入検査部門における選別評価効率の改善が求められています。
アプリケーション・ノート 2000-07-17 |
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LCR メータによる効率的な大容量コンデンサ測定(AN1305-4)
本アプリケーション・ノートではAgilent Technoloegies 4263B LCRメータを用いた信頼性の高い効率的な大容量コンデンサ測定についてご紹介します。
アプリケーション・ノート 2000-07-17 |
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LFｲﾝﾋﾟｰﾀﾞﾝｽ測定の技術限界を超える4294Aの新技術 PN4294-2
本プロダクト・ノートでは、周波数範囲拡大に成功したLF帯インピーダンス測定の新たな可能性を広げたAgilent Technologies 4294A プレシジョン・インピーダンス・アナライザをとりあげ、自動平衡ブリッジ法の技術革新について解説しております。
アプリケーション・ノート 2003-07-03 |
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MOSキャパシターのゲート酸化膜のC-V特性評価(PN4294-3)
As a result of extremely high integration of logic LSIs, MOS FETs with gate lengths of 0.1 ?m or less have been produced recently. A consequence of this miniaturization has been the need for very thin gate oxide layers.
アプリケーション・ノート 2003-06-25 |
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RF-IV法によるインピーダンス測定のネットワーク測定法に対する優位性(AN 1369-2)
本アプリケーション・ノートでは、RF I-V測定法の説明を中心に、インピーダンス・アナライザとネットワーク・アナライザの違いを述べており、アプリケーションに応じた最適な測定方法を選択するために役立つ情報を提...
アプリケーション・ノート 2001-07-19 |
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インピーダンス・アナライザ、ネットワーク・アナライザを用いたRFIDの評価
本アプリケーションノートでは、13.56 MHz帯の非接触ICカードを例に、研究開発や製造ラインでの評価方法について具体例を交えながら解説します。
アプリケーション・ノート 2003-05-01 |
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インピーダンス測定ハンドブック 2003年11月版
本ハンドブックでは、インピーダンス測定の基本原理から応用例までを詳細に解説し、インピーダンス測定に必要な技術情報を全て網羅しています。
アプリケーション・ノート 2003-10-31 |
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インピーダンス測定技術を用いた誘電体、磁性体材料測定 AN1369-1
本アプリケーションノートでは、インピーダンス測定技術を用いた誘電体材料、磁性体材の測定方法と測定システムについて解説します。
アプリケーション・ノート 2012-05-11 |
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エンジニアのためのインピーダンス測定の8つのヒントAN346-4
インピーダンスは電子部品の特性評価に使用する重要なパラメータです。インピーダンス(Z)はある周波数における電子部品の交流電流の流れを妨げる量として定義され、数学的には複素平面上のベクトル量として表されま...
アプリケーション・ノート 2000-04-13 |
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カスケード・マイクロテック社 プローブ・ステーションを用いた高確度インピーダンス測定(AN 1369-3)
本アプリケーション・ノートでは、E4991Aまたは4294Aと、カスケード・マイクロテック社製プローブ・ステーションを組み合わせた場合の、インスタレーション、校正、そして測定性能などの詳細について説明しております。
アプリケーション・ノート 2001-07-27 |
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コンビネーションアナライザを用いた効率的な電子回路・電子部品評価ＡＮ1308-1
近年、電子機器への高性能化・小型軽量化の要求が加速されています。これに伴い、回路の開発・設計サイクルの短縮化がますます重要になっていきます。回路の開発・設計の流れを見ますと、システム全体の構築設計を...
アプリケーション・ノート 2002-01-18 |
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スキャナを用いた効率的なマルチタップトランス測定 AN1224-5
スキャナとAgilent 4263B LCRメータを用いた効率的なマルチタップ・トランス測定についてご紹介します。
アプリケーション・ノート 2002-06-18 |
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半導体のマルチ周波数C - V 測定AN 369-5
一般的にMOS 等の半導体デバイスの製造プロセス評価に必要とされる各種パラメータ酸化膜容量Cox 基板不純物濃度Nsub 等は、C-V 特性をもとに算出されます。このため正確なプロセス評価をするためには、精密なC-V 測定が必...
アプリケーション・ノート 2000-08-30 |
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広帯域にわたる直流電流重畳インダクタンス測定 AN369-8
高周波に対応した低損失インダクタの開発・生産においては、実際の動作条件に近いインダクタンスの特性を評価する為に、直流電流重畳インダクタンス測定が不可欠です。本アプリケーション・ノートでは、高周波スイッチング電源用インダクタの、広帯域にわたる正確な直流電流重畳インダクタンス測定についてご紹介します。
アプリケーション・ノート 2003-01-24 |
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電子機器の品質向上に貢献するLCR部品評価AN 369-9
今日の電子機器製品のめざましい発達に伴い、それらに対する品質や信頼性向上及び低価格化への要求は高まる一方です。このため製品の品質向上やコストダウンが非常に重要になってきています。そして製品の品質向上...
アプリケーション・ノート 2001-07-11 |
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Balanced Circuit Measurement with an Impedance Analyzer/LCR Meter/Network Analyzer (AN 346-2)
This application note describes the difference between a balanced circuit and an unbalanced circuit, and also explains how to make an unbalanced circuit measurement by the unbalanced instrument step by step.
アプリケーション・ノート 2008-04-10 |
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Contact Resistance and Insulation Resistance Measurements of Electromechanical Components (AN1305-1)
This application note describes the contact resistance and insulation resistance measurement of mechanical components.
アプリケーション・ノート 2008-04-03 |
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Electronic Characterization of Impedance Analyzer (AN 1300-5)
This application note describes in broad terms how to use the 4291B RF Impedance/Material Analyzer in determining the impedance characteristics of IC packages up to 1.8 GHz. This information is useful for high speed digital designers, component...
アプリケーション・ノート 2000-11-01 |
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