高速数字

在您的成功之路上，每一代数字标准的更改都带来新的风险。创建新产品并与像您这样的工程师协同工作时，我们对此深有体会。安捷伦用于进行高速数字测试的解决方案集是仪表和广泛专业技术（建立在我们不断与业界专家进行沟通交流的基础之上）的结合。通过分享我们最新的经验，安捷伦能够帮助您预测挑战和提高创建值得骄傲的产品的能力。安捷伦――实现您的最佳设计。

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Agilent 81250 用于平面显示器链路测试 Agilent 81250 用于平面显示器链路测试应用说明 2003-08-19	PDF 1.36 MB 语言 English \| 2004-07-29 \| PDF 128 KB 中文（简体） \| 2003-08-19 \| PDF 1.36 MB
Agilent N4900 串行 BERT 系列的抖动注入和分析能力抖动基础和N4900的抖动能力。应用说明 2003-07-17	PDF 1.77 MB 语言 English \| 2003-11-01 \| PDF 3.99 MB 中文（简体） \| 2003-07-17 \| PDF 1.77 MB
PCI Express® 2.0 版接收机 (RX) 抖动容限测试应用指南 PCI Express® 2.0 版接收机 (RX) 抖动容限测试应用指南应用说明 2009-04-01	PDF 737 KB 语言 English \| 2006-01-30 \| PDF 1.31 MB 中文（简体） \| 2009-04-01 \| PDF 737 KB 中文（繁體） \| 2009-05-18 \| PDF 1.44 MB
S 参数系列：InfiniiSim 波形转换工具套件――应用指南说明并解决工程师在使用示波器测量高速链路性能时最常遇到的 5 个问题。应用说明 2012-08-21	PDF 9.77 MB 语言 English \| 2012-08-21 \| PDF 9.77 MB 中文（简体） \| 2012-08-21 \| PDF 9.77 MB 한국어 \| 2012-08-21 \| PDF 9.77 MB
S 参数系列：使用去嵌入工具进行虚拟探测――应用指南讨论如何使用去嵌入工具虚拟访问不同的测量点应用说明 2012-03-11	PDF 2.09 MB 语言 English \| 2012-03-11 \| PDF 2.09 MB 中文（简体） \| 2012-03-11 \| PDF 2.09 MB 한국어 \| 2012-03-11 \| PDF 2.09 MB
S 参数系列：使用时域反射计――应用指南时域反射计为数字设计人员提供了能够显示传统阻抗测量结果的强大工具，以及能够生成精确的 S 参数测量结果进行去嵌入的解决方案。应用说明 2012-03-01	PDF 3.69 MB 语言 English \| 2012-03-01 \| PDF 3.69 MB 中文（简体） \| 2012-03-01 \| PDF 3.69 MB 한국어 \| 2012-03-01 \| PDF 3.69 MB
S 参数系列：示波器去嵌入应用中的 S 参数要求此指南帮助读者全面了解示波器数据如何进行互操作，以及它与 S 参数有什么样的关系应用说明 2012-03-02	PDF 2.13 MB 语言 English \| 2012-03-02 \| PDF 2.13 MB 中文（简体） \| 2012-03-02 \| PDF 2.13 MB 한국어 \| 2012-03-02 \| PDF 2.13 MB
使用 ADS 进行信号完整性优化 This white paper shows how to replace a multi-dimensional sweep of a long running PRBS time-domain simulation (including manual data evaluation) by short, channel-pulse characterization in the Advanced Design System to efficiently optimize a channel. 应用说明 2009-10-19	PDF 275 KB 语言 English \| 2009-10-19 \| PDF 275 KB 中文（简体） \| 2009-10-19 \| PDF 275 KB
使用 Agilent 86100A 表征高速光发射机一致性测试，AN： 1340-1 本应用指南重点介绍了三项通信技术所使用的光发射机测试：SONET/SHD、千兆位以太网和光纤通道应用说明 2000-08-01	PDF 1.96 MB 语言 English \| 2000-08-01 \| PDF 2.01 MB 中文（简体） \| 2000-08-01 \| PDF 1.96 MB
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适用于分析高速数字互连的先进 VNA 测试系统－－应用指南讨论互连测试以及在最新一代测试软件（PLTS2011）基础上构建的现有解决方案。这些软件适用于侧重软件的安捷伦高性能网络分析仪（PNA）系列。应用说明 2012-01-19	PDF 2.22 MB 语言 English \| 2012-01-19 \| PDF 2.22 MB 中文（简体） \| 2012-01-19 \| PDF 2.22 MB 한국어 \| 2012-01-19 \| PDF 2.22 MB
选择适合您 FPGA设计的I/O体系结构应用指南1500 应用说明 2005-11-01	PDF 1.14 MB 语言 English \| 2005-02-25 \| PDF 367 KB 中文（简体） \| 2005-11-01 \| PDF 1.14 MB 日本語 \| 2005-04-28 \| PDF 3 MB
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6 Hints for Better SATA and SAS Measurements These 6 Hints for better SATA and SAS measurements cover Tx, Rx, Impedance and Return Loss, and Host/Device Digital testing challenges. 应用说明 2012-02-02	PDF 1.59 MB
8 Hints for Debugging and Validating High-speed Buses 8 Hints for Debugging High-speed Buses 应用说明 2002-03-05	PDF 2.24 MB
8 Hints for Debugging Siemens MCU-based Designs A new type of instrument, the mixed signal oscilloscope (MSO), closes the gap in MCU debugging tools. The Agilent 54645D from Hewlett-Packard combines two analog scope channels with 16 digital logic channels, so you can monitor analog and digital lines at the same time. This MSO offers more... 应用说明 1998-11-01	PDF 736 KB
A Simple, Powerful Method to Characterize Differential Interconnects The Automatic Fixture Removal (AFR) process is a new technique to extract accurate, high bandwidth models of interconnects that is both simple and accurate. 应用说明 2011-06-17	PDF 3.48 MB
Advanced Jitter Generation and Analysis Product Note This product note shows how the Agilent pulse generators can be used with the DCA-J Oscilloscope. 应用说明 2004-10-04	PDF 549 KB

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