고속 디지털

기가비트 디지털 설계의 어려움 극복

디지털 신호가 기가비트 속도에 이르면 예상치 못한 문제들이 생기기 마련입니다. 프로젝트를 다시 정상 궤도로 올려놓기 위해 우선 최상의 툴이 필요합니다. 또한, 신호 무결성을 위해 프로젝트의 모든 단계에서 평가가 필요합니다. 애질런트 고속 디지털 솔루션 세트는 측정 및 시뮬레이션을 위한 필수 툴로 구성되어 기가비트 디지털 설계의 어려움을 해결해드립니다. 애질런트 툴은 시간 및 주파수 도메인에 대한 가시성을 높여 근본적 문제를 드려내고 인증 설계를 보장합니다. 애질런트와 함께 한다면 정확성, 최적화 및 적시 프로젝트 완료를 현실화하는 힘이 생깁니다.

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이 웹사이트에서 설계 주기의 4개 단계 및 신호 무결성 분석의 중요 및 필수 분야 내에서 솔루션을 찾으십시오.

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S-파라미터 시리즈: PrInfiniiSim 파형 변환 툴세트의 실제 적용 어플리케이션 노트 (영문) 엔지니어들이 오실로스코프를 사용하여 고속 링크의 성능을 측정할 때 주로 직면하는 가장 일반적인 문제 5가지를 살펴보고 이를 어떻게 해결하는지 알아봅니다. 어플리케이션 노트 2012-08-21	PDF 9.77 MB 언어 English \| 2012-08-21 \| PDF 9.77 MB 中文（简体） \| 2012-08-21 \| PDF 9.77 MB 한국어 \| 2012-08-21 \| PDF 9.77 MB
S-파라미터 시리즈: 가상 프로빙에 디임베딩 툴 사용 어플리케이션 노트(영문) 까다로운 측정 포인트에 대한 가상 액세스를 위해 디임베딩 툴을 사용하는 방법에 대해 설명합니다. 어플리케이션 노트 2012-03-11	PDF 2.09 MB 언어 English \| 2012-03-11 \| PDF 2.09 MB 中文（简体） \| 2012-03-11 \| PDF 2.09 MB 한국어 \| 2012-03-11 \| PDF 2.09 MB
S-파라미터 시리즈: 시간 도메인 반사계 사용에 관한 어플리케이션 노트 (영문) 시간 도메인 반사계는 디지털 설계자들에게 기존의 임피던스 측정을 표시하는 강력한 툴과 디임베딩을 위해 정확한 S-파라미터 측정을 생성하는 솔루션을 제공합니다. 어플리케이션 노트 2012-03-01	PDF 3.69 MB 언어 English \| 2012-03-01 \| PDF 3.69 MB 中文（简体） \| 2012-03-01 \| PDF 3.69 MB 한국어 \| 2012-03-01 \| PDF 3.69 MB
S-파라미터 시리즈: 오실로스코프 디임베딩 어플리케이션의 S-파라미터 요구사항 (영문) 오실로스코프 데이터 상호운용 및 이러한 데이터와 S-파라미터의 관계를 이해하는 방법을 전체적으로 파악할 수 있도록 도와주는 자습서입니다. 어플리케이션 노트 2012-03-02	PDF 2.13 MB 언어 English \| 2012-03-02 \| PDF 2.13 MB 中文（简体） \| 2012-03-02 \| PDF 2.13 MB 한국어 \| 2012-03-02 \| PDF 2.13 MB
고대역폭 액티브 오실로스코프 프로브의 유용성과 성능 비교 이해(AN 1419-02) 프로브 로딩을 최소화하고 최고 성능의 신호 구현을 위한 방법을 이해합니다. 어플리케이션 노트 2002-11-01	PDF 806 KB 언어 English \| 2002-11-01 \| PDF 912 KB 中文（简体） \| 2003-06-05 \| PDF 1.20 MB 日本語 \| 2003-02-10 \| PDF 443 KB 中文（繁體） \| 2002-12-10 \| PDF 1.08 MB 한국어 \| 2002-11-01 \| PDF 806 KB
고속 디지털 인터커넥트 분석을 위한 고급 VNA 기반 테스트 시스템 – 어플리케이션 노트 (영문) 인터커넥트 테스트에 대해 설명하고 소프트웨어에 초점을 맞춘 애질런트의 성능 네트워크 분석기(PNA) 라인용 최신 세대 테스트 소프트웨어(PLTS2011) 기반의 솔루션을 제시합니다. 어플리케이션 노트 2012-01-19	PDF 2.22 MB 언어 English \| 2012-01-19 \| PDF 2.22 MB 中文（简体） \| 2012-01-19 \| PDF 2.22 MB 한국어 \| 2012-01-19 \| PDF 2.22 MB
애질런트 86100C DCA-J(PN 86100C-1)를 사용한 고정밀 지터 분석 어플리케이션 노트 2007-03-07	PDF 1.64 MB 언어 English \| 2007-03-07 \| PDF 1.64 MB 日本語 \| 2004-07-20 \| PDF 4.28 MB 한국어 \| 2007-03-07 \| PDF 1.64 MB
채널 효과를 디임베딩, 임베딩 및 시뮬레이션하기 위해 오실로스코프 수집 변환 (영문) 설계 파라미터 이해의 기초, 다양한 데이터 수집 방법 및 결과를 설계에 구현하는 방법을 다룹니다. 어플리케이션 노트 2012-03-05	PDF 2.33 MB 언어 English \| 2012-03-05 \| PDF 2.33 MB 中文（简体） \| 2012-03-05 \| PDF 2.33 MB 한국어 \| 2012-03-05 \| PDF 2.33 MB
6 Hints for Better SATA and SAS Measurements These 6 Hints for better SATA and SAS measurements cover Tx, Rx, Impedance and Return Loss, and Host/Device Digital testing challenges. 어플리케이션 노트 2012-02-02	PDF 1.59 MB
8 Hints for Debugging and Validating High-speed Buses 8 Hints for Debugging High-speed Buses 어플리케이션 노트 2002-03-05	PDF 2.24 MB
8 Hints for Debugging Siemens MCU-based Designs A new type of instrument, the mixed signal oscilloscope (MSO), closes the gap in MCU debugging tools. The Agilent 54645D from Hewlett-Packard combines two analog scope channels with 16 digital logic channels, so you can monitor analog and digital lines at the same time. This MSO offers more... 어플리케이션 노트 1998-11-01	PDF 736 KB
A Simple, Powerful Method to Characterize Differential Interconnects The Automatic Fixture Removal (AFR) process is a new technique to extract accurate, high bandwidth models of interconnects that is both simple and accurate. 어플리케이션 노트 2011-06-17	PDF 3.48 MB
Advanced Jitter Generation and Analysis Product Note This product note shows how the Agilent pulse generators can be used with the DCA-J Oscilloscope. 어플리케이션 노트 2004-10-04	PDF 549 KB
Advanced Memory Buffer (AMB), Characterization of Timing and Voltage Specification Advanced Memory Buffer (AMB), Characterization of Timing and Voltage Specification 어플리케이션 노트 2005-09-22	PDF 812 KB
Agilent N4900 Serial BERT Series Jitter Injection and Analysis Capabilities The fundamentals of Jitter and it's capabilities with the N4900. 어플리케이션 노트 2003-11-01	PDF 3.99 MB 언어 English \| 2003-11-01 \| PDF 3.99 MB 中文（简体） \| 2003-07-17 \| PDF 1.77 MB
Automated PCI Express Receiver Compliance Test and Characterization with N5990A This product note shows how to use the test automation software platform to verify and debug your PCI Express bus designs. As an example, a multi-lane add-in card is used. 어플리케이션 노트 2006-08-29	PDF 444 KB
Automated USB 2.0 Receiver Compliance Test and Characterization with the Agilent N5990A Automated USB 2.0 Receiver Compliance Test and Characterization with the Agilent N5990A Software Platform: 8 pages 어플리케이션 노트 2007-01-31	PDF 272 KB
Calibrated Jitter, Jitter Tolerance Test and Jitter Laboratory with the Agilent J-BERT N4903A This application note describes the N4903A BERT characterization solution for emerging serial gigabit devices: it helps engineers make quick and accurate jitter tolerance tests, which have been complicated and hard to do in the past. 어플리케이션 노트 2006-07-18	PDF 5.33 MB
Characterization of Balanced Digital Components and Communication Paths 어플리케이션 노트 2001-11-19	PDF 1.01 MB
Characterizing Clock Jitter through Phase Noise Measurements Speeds up Design Verification Process This white paper discusses a new measurement method for obtaining highly accurate low random jitter (RJ) measurements and performing real-time analysis of RJ and periodic jitter (PJ) of components. 어플리케이션 노트 2008-11-20	PDF 688 KB 언어 English \| 2008-11-20 \| PDF 688 KB 中文（简体） \| 2008-12-01 \| PDF 620 KB 日本語 \| 2009-01-14 \| PDF 1.74 MB
Characterizing High-Speed Optical Transmitters Compliance Testing with the Agilent 86100A AN: 1340-1 This application note will focus on the testing of opticaltransmitters used by three communications technologies:SONET/SHD, Gigabit Ethernet, and Fibre Channel. 어플리케이션 노트 2000-08-01	PDF 2.01 MB 언어 English \| 2000-08-01 \| PDF 2.01 MB 中文（简体） \| 2000-08-01 \| PDF 1.96 MB
Comparison of Different Jitter Analysis Techniques With a Precision Transmitter This white paper describes how various jitter analysis techniques give dissimilar results. Which is right? We built a precision jitter transmitter to compare results of different techniques where test sets were exposed to known levels of jitter. 어플리케이션 노트 2006-04-06	PDF 164 KB
Crossing the Digital-Analog Divide - White Paper This white paper helps to better understand how to cope with the physical nature of signals that we might prefer to think of as bits, nibbles and bytes, let's start with an ideal digital waveform. 어플리케이션 노트 2012-05-02	PDF 6.46 MB
DDR4 TdiVW/VdiVW Bit Error Rate Measurement or Understanding Bit Error Rate Importance of making BER measurement calculations to form a statistical measurement of total jitter to understand the design's data valid window result and design error rates. 어플리케이션 노트 2013-01-24	PDF 1.65 MB
Debugging Parallel RapidIO Designs 어플리케이션 노트 2003-01-09	PDF 356 KB 언어 English \| 2003-01-09 \| PDF 356 KB 日本語 \| 2003-04-25 \| PDF 1.41 MB

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