高速デジタル

デジタル規格では、世代交代のたびに新たなリスクが生じます。弊社の製品を開発したり、皆様のようなエンジニアの方々と一緒に仕事をしているときに、リスクに直面してきました。Agilentの高速デジタル・テスト用ソリューション・セットは、業界の専門家との継続的な関係に基づいて、測定機器とボードの専門知識を組み合わせたものです。弊社は最新の経験を提供することにより、問題を予測でき、優れた製品を短期間で作成できるように支援しています。Agilentが、最高のデザインの実現を支援。

デザイン・サイクル全体に対応

このWebサイトでは、重要な（不可欠な）シグナル・インテグリティ解析の分野はもちろん、デザイン・サイクルの4つの段階すべてのソリューションを探索できます。

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* AMF2013 - 7月開催 / トレーニング・コース一覧アジレント電子計測　有料トレーニングコース一覧トレーニング資料 2013-05-07
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PCI Express® 3.0の問題とAgilentのテスト・ソリューション　ウェブセミナ（録画）
PCI Express® 3.0の概要と主なデザイン上の問題　ウェブセミナ（録画）
デジタルおよびフォトニックWebキャスト・シリーズ高速デジタル・テストの問題解決と40/100 G光ネットワークへの準備ウェブセミナ
高速デジタル・デバイス用の高度な製品デザイン／テストのWebキャスト Original broadcast Jan 18, 2012 ウェブセミナ（録画）
高速デジタル設計を成功に導く、ADS、EMPro、SystemVue ワークショップ資料このセルフガイド・ワークショップの資料は、ADS 2011の最新の高速デジタル機能を紹介しています。セミナのプレゼンテーション 2011-09-29
100G TX Designs - Tips & Techniques for Accurate Characterization Webcast Original broadcast on February 27, 2013 ウェブセミナ（録画）
Accelerating DDR4 Debug and Protocol Validation Webcast Original webcast February 26, 2013 ウェブセミナ（録画）
Accelerating USB 3.0 Protocol Development Original broadcast June 27, 2012 ウェブセミナ（録画）
ADMF: Facing the challenges of Super speed USB 3.0 Product Development Agilent Digital Measurement Forum (ADMF): Facing the challenges of Super speed USB Product Development セミナのプレゼンテーション 2008-11-12	PDF 1.78 MB
Advanced Product Design & Test for High-Speed Digital Devices Webcast Original broadcast Jan 18, 2012 ウェブセミナ（録画）
Analyzing Digital Jitter and its Component eSeminar FAQs FAQs from the eSeminar セミナのプレゼンテーション 2006-05-11	PDF 35 KB
Application-focused Oscilloscope Measurements – Education Webcast Series Live broadcasts throughout 2013 ウェブセミナ
Astonishing Enhancements to Signal Integrity EDA Tools Using Video Game 3D Glasses and GPUs Originally broadcast Jan 21, 2010 ウェブセミナ（録画）
Breakthrough in High Speed Interconnect Analysis and Compliance Testing Originally broadcast April 27, 2011 ウェブセミナ（録画）
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Case Study: Overcoming Return-path Discontinuity in DDR3/GDDR5 Memory Controller Packages Original broadcast October 13, 2011 ウェブセミナ（録画）
Characterization and Modeling of a High Speed Backplane Differential Channels eSeminar FAQs FAQs from the eSeminar セミナのプレゼンテーション 2006-05-11	PDF 80 KB
Characterize and Correct for Cable, Switch and Test Fixture Loss Using Only a High-Bandwidth Scope Originally broadcast July 27, 2011 ウェブセミナ（録画）
Conquering USB 3.0 Physical Layer Test Challenges Original broadcast June 13, 2012 ウェブセミナ（録画）
Debugging and integrating MIPI DigRF enabled ICs in LTE and WiMAX mobile devices Original broadcast Oct 28, 2008. Webcast slides available for download only. ウェブセミナ（録画）
Design and Test Challenges in Next Generation High-Speed Serial Standards Attend this FREE education workshop at DesignCon 2012, brought to you by Agilent Technologies, Official Host Sponsor of the conference. トレーニング資料 2011-11-29
DisplayPort 1.2 Physical Layer Testing Original broadcast October 30, 2012 ウェブセミナ（録画）
EDN Editorial Webcast: Signal Integrity and High-Speed Board Design Originally broadcast Jan 25, 2011 ウェブセミナ（録画）

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