高速デジタル
- デザインおよびシミュレーション：ADSアプリケーション・ノートのダウンロード
- 解析およびデバッグ：デバッグに関するアプリケーション・ノートのダウンロード
- コンプライアンス：コンプライアンスに関するWebページ
- シグナル・インテグリティ：PLTS技術概要へのリンク
デジタル規格では、世代交代のたびに新たなリスクが生じます。弊社の製品を開発したり、皆様のようなエンジニアの方々と一緒に仕事をしているときに、リスクに直面してきました。Agilentの高速デジタル・テスト用ソリューション・セットは、業界の専門家との継続的な関係に基づいて、測定機器とボードの専門知識を組み合わせたものです。弊社は最新の経験を提供することにより、問題を予測でき、優れた製品を短期間で作成できるように支援しています。Agilentが、最高のデザインの実現を支援。
デザイン・サイクル全体に対応
このWebサイトでは、重要な（不可欠な）シグナル・インテグリティ解析の分野はもちろん、デザイン・サイクルの4つの段階すべてのソリューションを探索できます。
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製品カテゴリ
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An Innovative Simulation Workflow for Debugging High-Speed Digital Designs Using Jitter Separation
This paper presents a new simulation workflow for jitter separation analysis.
アプリケーション・ノート 2013-06-06 |
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606 KB
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Agilent EEsof EDAユーザ向けメールマガジン -- しみゅレター
アジレントEDAソリューションの技術情報やアプリケーション情報を定期的にお知らせするEメールニュースレターです。
ニュースレター 2013-06-03 |
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Agilent Introduces Electrical Retimer Solution to Solve Challenges in Designing Chip-to-Chip Links
Agilent introduces the latest addition to its repeater model library for quickly and accurately solving the challenge posed by signal distortion in the multigigabit-per-second regime.
プレス資料 2013-05-29 |
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Agilent EEsof EDA Customer Support Brochure
Whether you are a novice or an experienced user, Agilent EEsof EDA’s customer support offerings are designed to help you every step of the way.
ブローシャ 2013-05-28 |
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681 KB
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Agilent Technologies Announces High-Speed Digital Seminar Tour with Micron
Agilent announces its 2013 High-Speed Digital Tour, covering more than 20 locations throughout Europe.
プレス資料 2013-05-28 |
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Agilent EEsof EDA Software and Modular Solutions for Universities
Agilent works in collaboration with universities to provide tools that enable education and research for the engineers of tomorrow. The brochure outlines available programs, software and hardware.
ブローシャ 2013-05-27 |
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2.05 MB
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Momentum Overview
Overview video of Agilent Momentum, the gold standard in 3D planar electromagnetic simulation that enables your design of optimum laminar structures.
デモ 2013-05-08 |
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ClioSoft Announces the Integration of SOS Design Data Management with Advanced Design System
ClioSoft's integrated solution offers ADS users seamlessly integrated revision control and enterprise design data management
プレス資料 2013-05-07 |
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Press Releases for N5990A
Press Releases for N5990A
プレス資料 2013-05-06 |
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High Speed Digital Design and Simulation Videos on YouTube
Agilent EEsof EDA's High Speed Digital Design and Simulation video playlist on YouTube.
デモ 2013-04-19 |
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EDA Support Services
Agilent Support Services for EDA Products offers customers several benefits otherwise not available. This service is designed to help you get the most out of your software purchases.
ブローシャ 2013-04-09 |
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Agilent Technologies Launches Recognition Program for EDA Experts
Agilent launches its Agilent Certified Expert recognition program for EDA experts. Eligible participants include individuals demonstrating a high level of expertise-both theoretical and practical-in applying Agilent EEsof EDA tools for product design and modeling.
プレス資料 2013-03-12 |
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IBIS AMIチャネル・シミュレーション・フローを用いたSERDESデザインについて
最新のチップ間リンクのシミュレーションでは、SPICEベースのアプローチに代わり、IBIS AMIチャネル・シミュレーション・フローに基いた新しいアプローチを採用する必要があります。
アプリケーション・ノート 2013-02-15 |
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Agilent Technologies Commits $90 Million Gift of Software to Georgia Institute of Technology
Agilent announces the largest in-kind software donation ever in its longstanding relationship with the Georgia Institute of Technology.
プレス資料 2013-02-04 |
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Agilent Technologies and SiSoft Introduce Pre-Standard IBIS-AMI Modeling Guide
Agilent and Signal Integrity Software, Inc. (SiSoft) announce guidelines that enable system designers to use advanced jitter and broadband analog capabilities when modeling high-speed serial devices.
プレス資料 2013-01-29 |
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DDR4 TdiVW/VdiVW Bit Error Rate Measurement or Understanding Bit Error Rate
Importance of making BER measurement calculations to form a statistical measurement of total jitter to understand the design's data valid window result and design error rates.
アプリケーション・ノート 2013-01-24 |
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1.65 MB
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Agilent Technologies to Demonstrate Newest High-Speed Digital Design and Test Solutions at DesignCon
Agilent announces it will demonstrate its high-speed digital design and test solutions at DesignCon, Jan. 28- 31, at the Santa Clara Convention Center (Booth 201).
プレス資料 2013-01-15 |
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Electrical Redriver Modeling Solution to Solve Key Challenges in Designing Chip-to-Chip Links
Agilent introduces a redriver modeling solution designed to quickly and accurately solve the challenge posed by signal distortion in multigigabit-per-second systems.
プレス資料 2012-11-05 |
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Frequency Domain Analysis of Jitter Amplification in Clock Channels
Clock channel jitter amplification factor in terms of transfer function or S-parameters is derived. Amplification is shown to arise from smaller attenuation in jitter lower sideband than in the fundamental. Amplification scaling with loss is obtained.
アプリケーション・ノート 2012-11-01 |
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257 KB
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Agilent Technologies to Demonstrate High-Speed Digital Design Solutions at EPEPS
Agilent announces it will demonstrate its high-speed digital design solutions at EPEPS 2012, Oct. 22-23, at the Tempe Mission Palms Hotel, in Tempe, Ariz.
プレス資料 2012-10-22 |
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STATS ChipPAC Launches QFN Package Design Kit for Agilent Technologies’ Advanced Design System
STATS ChipPAC announces the launch of its Quad Flat No-Lead (QFN) package design kit for ADS.
プレス資料 2012-09-12 |
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The Power of S-Parameters for High Speed Digital Design Tutorial
Learn to use S-parameters for high-speed digital designs with this video tutorial.
プロモーション資料 2012-09-07 |
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S-parameter Series: Practical Application of the InfiniiSim Waveform Transformation Toolset Applicat
Presents and addresses five of the most common problems that confront engineers when trying to measure performance on high speed links, using an oscilloscope.
アプリケーション・ノート 2012-08-21 |
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シグナル・インテグリティ統合環境
ブローシャ 2012-07-25 |
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693 KB
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Agilent to Demonstrate Test Solutions at International Symposium on Electromagnetic Compatibility
Agilent will demonstrate its test solutions at the IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility in Pittsburg, Aug. 5-10, 2012.
プレス資料 2012-07-18 |
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