光工学/光通信
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86100C/86108A による高速デジタル信号の正確な波形解析
本書は、Agilent 86108A プレシジョン・ウェーブフォーム・アナライザ・モジュールを86100C DCA-J サンプリング・オシロスコープ・メインフレームに装着した場合における高速デジタル通信信号の正確な解析について記述しています。
アプリケーション・ノート 2008-05-14 |
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Agilent 高速光コンポーネントの周波数応答解析
光伝送システムの高度化に伴い、コンポーネントのデザイナやメーカはデバイスの性能を最大限に高める必要があります。
アプリケーション・ノート 2008-03-11 |
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Measuring Jitter in Digital Systems (AN 1448-1)
Measuring jitter and how to calculate total jitter.
アプリケーション・ノート 2008-01-30 |
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N6705A DC電源/アナライザを使用したDC/DCコンバータへの電源の供給
このアプリケーション・ノートでは、N6705A DC電源/アナライザのさまざまな機能を使用したDC/DCコンバータのテスト方法の例を簡単に紹介します。
アプリケーション・ノート 2007-05-29 |
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デジタル・コミュニケーション・アナライザ(DCA)による相対強度雑音(RIN)の測定
レーザ強度雑音は、アナログ/デジタル信号の伝送を制限要素となる場合があります。これによりS/N比の低下やビット・エラー・レートが増加し、システムの性能が低下する可能性があります。
アプリケーション・ノート 2007-05-10 |
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86100シリーズ広帯域サンプリング・オシロスコープを使用した高速信号のプロービング
等価時間サンプリング・オシロスコープは、高帯域で優れたローノイズ性能を持ち、高速信号の精密な表示が可能です。しかし、プロービングの際に高品質のケーブルを使用しなければ、正確な測定はできなせん。Agilent 86100広帯域幅オシロスコープには、シンプルで正確な測定を行うために、3種類のアクセサリが用意されています。
アプリケーション・ノート 2007-04-10 |
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Comparison of Different Jitter Analysis Techniques With a Precision Transmitter
This white paper describes how various jitter analysis techniques give dissimilar results. Which is right? We built a precision jitter transmitter to compare results of different techniques where test sets were exposed to known levels of jitter.
アプリケーション・ノート 2006-04-06 |
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Equalization: The Correction and Analysis of Degraded Signals
This whitepaper introduces engineers to the concepts of equalization and terms used in the development of emerging technologies that use standard materials (e.g., FR4) for buses and backplanes at ever higher rates.
アプリケーション・ノート 2005-09-15 |
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Total Jitter Measurements at Low Probability Levels, Using Optimized BERT Scan Method
This paper describes an optimized technique based on probabliity and statistics theory that enables accurate TJ measurements at the 1e-12 bit error ratio level in about 20 minutes at 10 Gbit/s.
アプリケーション・ノート 2005-07-11 |
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Precision Jitter Transmitter
This paper introduces a precisely calibrated jitter source capable of applying a wide variety of jitter signals in different combinations at adjustable amplitudes. The system, calibration techniques, and examples are discussed.
アプリケーション・ノート 2005-06-20 |
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Jitter Analysis: The Dual-Dirac Model, RJ/DJ, and Q-Scale
This paper provides a complete description of the dual-Dirac model, how it is used in technology standards and a summary of how it is applied on different types of test equipment.
アプリケーション・ノート 2005-06-15 |
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86100C DCA-Jを用いた正確なジッタ解析
等価時間サンプリング・オシロスコープは非常に帯域幅が広いため、高速波形を正確に解析できます。長年、低いサンプリング・レートが、詳細なジッタ解析を行う上での制約となってきました。 86100Cのまったく新しいサンプリング/収集システムは、こうしたサンプリング・オシロスコープを高精度のジッタ解析ツールに変え、優れたジッタ特性評価を可能にします。
アプリケーション・ノート 2004-07-20 |
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Next Generation SONET/SDH devices - the driver for multi-port, muli-channel test
This application note describes next generation SONET/SDH telecomm network equipment and some of the new challenges faced in testing the behavior and characteristics of such equipment.
アプリケーション・ノート 2002-11-12 |
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光トランスミッタの消光比の測定 アプリケーション・ノート1550-8
本アプリケーション・ノートでは、測定の目的、消光比の測定に使用するプロセス、最善の測定結果を得るための方法について説明します。
アプリケーション・ノート 2002-09-30 |
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How to integrate switches and an optical attenuator in the amplifier test set-up
This application note discusses how to ensure an accurate characterization, and how to integrate the required measurement equipment.
アプリケーション・ノート 2002-09-02 |
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Polarization Measurements of Signals and Components (PN-8509-1)
This product note discusses various types of polarization measurements, introduces related polarization phenomena, presents measurement setups, procedures and typical Agilent 8509 test results.
アプリケーション・ノート 2002-06-21 |
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Loop Bandwidth and Clock Data Recovery in Oscilloscope Measurements (AN 1304-6)
This application note describes loop bandwidth and clock data recovery in oscilloscope measurements.
アプリケーション・ノート 2002-05-30 |
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Making Time Resolve Chirp Measurements
This application note covers laser modulation methods, time-resolved chirp (TRC) measurement methods, and applications of TRC measurement data to predict laser perfomance in a transmission system.
アプリケーション・ノート 2002-03-12 |
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Measuring the Dependence of Optical Amplifiers on Input Power Using an Attenuator
This application note describes the important optical amplifier properties of gain and noise figures and their dependence on the powers and wavelengths of the input signals.
アプリケーション・ノート 2002-03-11 |
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40 Gb/s and Return-to-Zero Measurements Using the 86100A Infiniium DCA (PN 86100-3)
This note describes the evolution of the Agilent 86100A Infiniium DCA for 40 Gb/s test and how measurement requirements have been implemented in the instrument through improved hardware and firmware.
アプリケーション・ノート 2001-11-15 |
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Agilent 86100A Infiniium DCAの測定感度の定義 (PN 86100-5)
Agilent 86100A Infiniium DCA(ディジタル・コミュニケーション・アナライザ)の感度を決定する主な仕様は、86100プラグイン・モジュールがもつ固有雑音レベルです。
アプリケーション・ノート 2001-10-30 |
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Variable Optical Attenuator in BER Test Applications
This application note will help users of optical attenuators to understand the key features of Agilent’s new attenuator family.
アプリケーション・ノート 2001-08-23 |
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Testing 10-Gb/s SONET/SDH Equipment and Components
This Product Note describes key features of the Agilent 71612A 12 Gb/s error performance analyzer that are particularly beneficial in the
development and production testing of components and sub-systems for SONET/SDH transmission equipment. The creation and real-time editing of custom patterns...
アプリケーション・ノート 2001-07-18 |
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High Speed Lightwave Component Analysis (AN 1550-6)
This application note tells how to characterize system components such as lasers and LED transmitters, photodiodereceivers, external modulators and optical components.
アプリケーション・ノート 2001-06-21 |
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Narrow-band PMD Measurements with the Agilent 8509C (PN 8509-2)
This product note provides information about making narrow-band Polarization Mode Dispersion (PMD) measurements using the Agilent 8509B Lightwave Polarization Analyzer.
アプリケーション・ノート 2001-02-01 |
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