デジタル・デザインとインターコネクト規格

Agilentによる最高のデザインの支援。高速規格に対応し、お客様の高速デジタル・デザイン・サイクル（デザイン／シミュレーション／解析／デバッグ／コンプライアンス／シグナル・インテグリティ）に適合する、最適なソリューションをご検討いただけます。

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Conquering USB 3.0 Physical Layer Test Challenges Original broadcast June 13, 2012 ウェブセミナ（録画）
Debugging and integrating MIPI DigRF enabled ICs in LTE and WiMAX mobile devices Original broadcast Oct 28, 2008. Webcast slides available for download only. ウェブセミナ（録画）
Design and Test Challenges in Next Generation High-Speed Serial Standards Attend this FREE education workshop at DesignCon 2012, brought to you by Agilent Technologies, Official Host Sponsor of the conference. トレーニング資料 2011-11-29
DisplayPort 1.2 Physical Layer Testing Original broadcast October 30, 2012 ウェブセミナ（録画）
EDN Editorial Webcast: Signal Integrity and High-Speed Board Design Originally broadcast Jan 25, 2011 ウェブセミナ（録画）
Effective Crosstalk Characterization Webcast Original broadcast January 24, 2013 ウェブセミナ（録画）
EMC 2013 - IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility August 5- 9, 2013; Denver, CO トレードショー
Ethernet Compliance Testing: Become More Green and Energy Efficient Webcast Original broadcast March 20, 2013 ウェブセミナ（録画）
Genesys Webcasts - "How-To-Design" series Originally broadcast in 2009. Access the 6 WebEX recordings ウェブセミナ（録画）
Hacking the Backplane:Complete Differential Channel Characterization & Analysis from 4-port Meas. セミナのプレゼンテーション 2008-11-09
High-Sensitivity Current Measurements using an Oscilloscope Webcast Original broadcast April 17, 2013 ウェブセミナ（録画）
High-speed Oscilloscope Probing: Ensuring Maximum Performance and Signal Integrity Originally broadcast March 10, 2011 ウェブセミナ（録画）
How to Solve DDR Signal Integrity Validation Challenges How to Solve DDR Signal Integrity Validation Challenges トレーニング資料 2008-02-13
IMS 2011 (IEEE MTT-S) – Connect, Expert to Expert, at Agilent Avenue 2011 show, last June, 2011; Baltimore Convention Center トレードショー
IMS 2012 (IEEE MTT-S) – Connect, Expert to Expert, at Agilent Avenue June 17-22, 2012 in Montréal, Canada トレードショー
IMS 2013 (IEEE MTT-S) – Connect, Expert to Expert, at Agilent Avenue June 2 - 7, 2013 in Seattle, WA トレードショー
InfiniBand Compliance and System Testing This tutorial provides an overview of Infiniband test requirements, compliance and system tests, and performance measurements. トレーニング資料 2002-07-26	PDF 906 KB
Innovations in EDA: Multi-Technology RF Design Using the New Advances in ADS 2011 Originally broadcast March 1, 2011 ウェブセミナ（録画）
Innovations in EDA: Opto-Electronic Signal Integrity on Optical Fiber Chip-to-Chip Link Originally broadcast April 7, 2011 ウェブセミナ（録画）
Innovations in EM Simulation for High Speed Digital Design Originally broadcast Nov 18, 2010; Part of the Series: Signal Integrity for High Speed Digital Interconnects. ウェブセミナ（録画）
Introduction to EMI/EMC Challenges and Their Solution Agilent EEsof EDA presentation on how to, "Overcome High Speed Digital Design Challenges". セミナのプレゼンテーション 2012-02-16	PDF 3.46 MB
Is Simulation a Requirement for Memory Designs Webcast Live broadcast February 20, 2013; 10am Pacific / 1pm Eastern ウェブセミナ
Jitter Analysis: What Works, What Doesn't & Why eSeminar FAQs FAQs from the eSeminar セミナのプレゼンテーション 2006-05-11	PDF 63 KB
Jitter in Digital Circuits eSeminar FAQs FAQs from the eSeminar セミナのプレゼンテーション 2006-05-11	PDF 34 KB
Jitter Measurements for High-Speed Digital Jitter Measurements for High-Speed Digital Transmission セミナのプレゼンテーション 2006-06-14	PDF 44 KB

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