測定の基礎
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4つのヒント マイクロ波カウンタのより優れた測定
技術の進歩につれ、測定器の各々の機能が重複する傾向が増えてきました。例えばスペクトラム・アナライザは周波数測定(かってはカウンタに限定された機能)、マイクロ波カウンタはパワー測定(同じくパワー・メータに...
アプリケーション・ノート 2000-04-20 |
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8つのヒント RF カウンタのより優れた測定
一見したところ、エレクトロニック・カウンタは全くシンプルな測定器のように思えます。信号を入力すれば、周波数やその他のパラメータが桁で表示されるからです。カウンタはつなげば使える機器のように考えがちで...
アプリケーション・ノート 2000-04-18 |
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8つのヒントアナログRF信号発生器によるより優れた測定
本書は、RFアナログ信号源を使用した測定の確度向上のためのガイドです。次のヒントをテスト・セットアップでご活用されて、確度向上にお役立てください。
アプリケーション・ノート 2000-04-21 |
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Agilent 662xAからN67xxA MPSへの変換ガイド
Agilent 662xAからN67xxA モジュラー電源システム(MPS)に容易に移行できるように、上位レベルの違いを説明しています。
アプリケーション・ノート 2004-02-19 |
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Agilent Medalist Bead Probe Technology
Agilent Medalistビード・プローブ技術は、プリント基板アセンブリ(PCBA) 上にテスト・プローブ（ビード）を設置し、これを使ってPCBAをテストする独自のテクノロジーです。
アプリケーション・ノート 2007-07-11 |
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2.46 MB
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Agilent Medalist VTEP v2.0（VTEP、iVTEP、NPM）によるテスト・カバレージの拡大
この記事では、Agilent Technologiesの新しいベクターレス・テスト手法、Medalist VTEP v2.0を最大限に活用するための方法について説明します。
アプリケーション・ノート 2007-07-11 |
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2.11 MB
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Agilent PNA マイクロ波ネットワーク・アナライザ
本アプリケーション・ノートでは、バンド別ミリ波ソリューションのシステム構成、システム操作、システム校正、代表的な測定例について詳しく説明しています。
アプリケーション・ノート 2010-01-21 |
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3.90 MB
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Agilent PNA-X ネットワーク・アナライザ 10 MHz ～ 26.5 GHz
このアプリケーション・ノートでは、Agilent PNA-X マイクロ波ネットワーク・アナライザによる2 トーン相互変調歪み測定の確度に関する注意事項を説明しています。
アプリケーション・ノート 2009-10-29 |
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2.89 MB
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Agilentの高度な校正手法を使用したトランシーバFPGAの検証
FPGA内のギガビット・トランシーバ・ブロックは、高速チャネルの性能を低下させないために注意深いデザインが必要です。本書は、このようなFPGA高速チャネルの性能を適切かつ正確に解析するための、最先端の校正手法について解説しています。
アプリケーション・ノート 2005-09-07 |
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4.32 MB
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Agilentベクトル・ネットワーク・アナライザ用の校正標準／キットの設定
このアプリケーション・ノートでは、校正標準の定義、校正キットの内容、Agilentベクトル・ネットワーク・アナライザに対する校正キットの構造要件について説明しています。
アプリケーション・ノート 2006-06-19 |
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2.46 MB
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Agilentマイクロ波PNAシリーズ・ネットワーク・アナライザ(AN 1408-9)
このアプリケーション・ノートでは、Agilentのマイクロ波（MW）PNAシリーズ・ベクトル・ネットワーク・アナライザを使った、増幅器の相互変調歪み成分のテストについて説明します。
アプリケーション・ノート 2004-01-10 |
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Bluetooth RF測定の基礎
Bこのアプリケーション・ノートでは、Bluetooth RF 設計をテストし検証するための送信機および受信機の測定について説明します。
アプリケーション・ノート 2010-10-18 |
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EDA ツールとE4991A RF インピーダンス/マテリアル・アナライザを用いて実現する設計時間の短縮（A/N1369-5）
本プロダクト・ノートでは、Agilent Technologies E4991A とAgilent EDAツールを組合わせたソリューションにより、受動部品の等価回路解析や、機器設計に要する時間の短縮を実現する方法について提案しております。
アプリケーション・ノート 2003-12-15 |
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1.05 MB
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Fundamentals of RF and Microwave Power Measurements
お客様が利用しやすいように、『Fundamentals of RF and Microwave Power Measurement』（アプリケーション・ノート64-1: カタログ番号5965-6330E）を改訂し、4つの技術テーマ別に分けました。各テーマに関する以下の要約をご覧ください。
アプリケーション・ノート 2003-09-16 |
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Medalist 5DX自動X線システムでの製造不良アナライザの検出パラメータの調整
製造不良アナライザは、ボードのZ高さをわずかに変更し、疑わしい接合を再検査することによって動作します。
アプリケーション・ノート 2008-09-30 |
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Medalist 5DX自動X線検査システムの表面マップ・パラメータの調整
Medalist 5DX自動X線検査システムの表面マップ・パラメータの調整
アプリケーション・ノート 2008-08-27 |
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PNA-X アプリケーション：電力付加効率（PAE）
電力付加効率（PAE）は、パワーアンプのパワー変換効率の指標です。理想的には、アンプへ供給されるすべてのパワーが出力パワーに変換されることです。しかし、実際にはそうならないので、PAE はパワーアンプの重要な性能パラメータです。
アプリケーション・ノート 2008-02-18 |
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2.93 MB
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PNAシリーズ・ネットワーク・アナライザによるアプリケーション開発(AN1408-13)
本プロダクト・ノートでは、PNAシリーズ・ネットワーク・アナライザ（E8356A、E8357A、E8358A）におけるシステム管理、ソフトウェアのインストール、COM/DCOMのセットアップの手順について詳しく説明します。本プロダクト・...
アプリケーション・ノート 2004-10-14 |
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PNAシリーズ：ハイパワー増幅器テストにおける推奨事項
このアプリケーション・ノートでは、Agilentのマイクロ波（MW）PNAネットワーク・アナライザを使用したハイパワー増幅器のテストに固有の問題について説明します。
アプリケーション・ノート 2004-10-22 |
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PNAシリーズ：ミキサの変換損失や群遅延を測定するための手法とその比較
このアプリケーション・ノートでは、ローパス・フィルタ内蔵コンバータの変換損失と群遅延を測定するための各種手法と測定器を比較しています。
アプリケーション・ノート 2003-12-16 |
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PNAシリーズ：増幅器のリニア測定と利得圧縮測定
このアプリケーション・ノートでは、Agilent のマイクロ波（MW ）PNA シリーズ・ベクトル・ネットワーク・アナライザを使った、増幅器のリニアS パラメータと利得圧縮のテストについて説明します。
アプリケーション・ノート 2006-06-12 |
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PNAマイクロ波ネットワーク・アナライザ：正確なパルスド測定
コンポーネントに印加する信号が、パルス（オン／オフする信号）でなければならないことがあります。パルスには、無限の数のスペクトル・トーンが含まれるので、通常の狭帯域VNAでは測定が困難です。このアプリケーション・ノートでは、Agilentのマイクロ波PNAネットワーク・アナライザを使って正確なパルスドSパラメータ測定を行う方法を紹介します。
アプリケーション・ノート 2004-06-08 |
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1.30 MB
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PXI、VXI、LXIによるハイブリッド・テスト・システムの構築
このアプリケーション・ノートでは、PXIおよびVXIをLXIと比較し、既存のテスト資産を統合するハイブリッド・システム・アーキテクチャの概要を説明し、完全にLXIベースのシステムに移行した場合の将来性についても説明しています。
アプリケーション・ノート 2006-06-17 |
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RF およびマイクロ波の雑音指数測定の基礎 AN57-1
現在の受信システムは、しばしば微弱な信号を処理しなければなりませんが、システムのコンポーネントによって追加される雑音のために微弱な信号は覆い隠されがちとなります。感度、ビット・エラー・レート（BER）、...
アプリケーション・ノート 2010-08-05 |
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RF-IV法によるインピーダンス測定のネットワーク測定法に対する優位性(AN 1369-2)
本アプリケーション・ノートでは、RF I-V測定法の説明を中心に、インピーダンス・アナライザとネットワーク・アナライザの違いを述べており、アプリケーションに応じた最適な測定方法を選択するために役立つ情報を提...
アプリケーション・ノート 2001-07-19 |
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1.17 MB
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