高速数字
在您的成功之路上，每一代数字标准的更改都带来新的风险。创建新产品并与像您这样的工程师协同工作时，我们对此深有体会。安捷伦用于进行高速数字测试的解决方案集是仪表和广泛专业技术（建立在我们不断与业界专家进行沟通交流的基础之上）的结合。通过分享我们最新的经验，安捷伦能够帮助您预测挑战和提高创建值得骄傲的产品的能力。安捷伦――实现您的最佳设计。
浏览完整的设计周期
通过浏览本网站，您将能了解到分别适用于设计周期全部四个阶段以及信号完整性分析核心部分的解决方案。
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2011 年国际微波会议（IEEE MTT-S）—安捷伦将在 Agilent Avenue 架起业界专家与领先公司之间的桥梁
2011 show, last June, 2011; Baltimore Convention Center
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Agilent EEsof EDA 客户教育与服务
Agilent EEsof MMIC Design Symposium
研讨会 |
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EDA 创新： 借助 ADS 2011 的最新特性，实现支持多重技术的射频设计
Originally broadcast March 1, 2011
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Genesys 网络研讨会－－“如何设计”系列
Originally broadcast in 2009. Access the 6 WebEX recordings
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IMS 2012 年研讨会（IEEE MTT-S） - 在 Agilent Avenue 架起业界专家与领先公司之间的桥梁
June 17-22, 2012 in Montréal, Canada
展览会 |
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SATA 和 SAS 6Gb/s 物理层和协议层全面测试解决方案
Originally broadcast Feb 24, 2010
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USB 3.0 超高速一致性测试挑战
Originally broadcast July 14, 2010
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串行 ATA 版本 3.0 物理层测试挑战： 验证您的 6Gbps 设计，使其符合规范
Originally Broadcast May 13, 2009
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了解全双工 LTE 收发信机的交叉调制效应
Originally broadcast July 22, 2010
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信号完整性： 把版图设计后期的 PCB Artwork 放入眼图和 BER 轮廓仿真中
Originally broadcast May 5, 2010. Part of the Series: Signal Integrity for High Speed Digital Interconnects.
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如何在预算范围内解决嵌入式设计中最常见的高速总线问题
Originally broadcast July 27, 2010
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嵌入式 PCI Express® 应用的调试和表征
Originally broadcast April 16, 2009
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征服高速数字设计挑战－－网络研讨会系列
Series of 3; Dec 15, 2011 / Jan 19, 2011 / Feb 16, 2011
网上直播 |
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数字与光学网络研讨会系列
Originally broadcast 2010, 2011. Access the recordings of many broadcasts
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数字和光技术网络研讨会系列
Originally broadcast 2010, 2011. Access the recordings of many broadcasts
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数字和光技术网络研讨会系列
Originally broadcast 2010, 2011. Access the recordings of many broadcasts
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案例分析：解决 DDR3/GDDR5 存储控制器套件存在的返回路径中断的难题
Original broadcast October 13, 2011
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解决高速数字设计难题的网络研讨会
Series of 3; Dec 15, 2011 / Jan 19, 2012 / Feb 16, 2012
网上直播 |
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ADMF: Facing the challenges of Super speed USB 3.0 Product Development
Agilent Digital Measurement Forum (ADMF): Facing the challenges of Super speed USB Product Development
研讨会演示 2008-11-12 |
PDF
1.78 MB
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Astonishing Enhancements to Signal Integrity EDA Tools Using Video Game 3D Glasses and GPUs
Originally broadcast Jan 21, 2010
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Design and Test Challenges in Next Generation High-Speed Serial Standards
Attend this FREE education workshop at DesignCon 2012, brought to you by Agilent Technologies, Official Host Sponsor of the conference.
培训资料 2011-11-29 |
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Digital and Photonics Webcast Series
Originally broadcast 2010, 2011. Access the recordings of many broadcasts
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Digital Webcast Series - Master the high-speed digital test challenge
multiple broadcasts - refer to www.agilent.com/find/DPTwebcasts for the complete list
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Ethernet Compliance Testing: Become More Green and Energy Efficient Webcast
Original broadcast March 20, 2013
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Genesys Webcasts - "How-To-Design" series
Originally broadcast in 2009. Access the 6 WebEX recordings
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