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注目のアプリケーション情報
- 光測定アプリケーション＆ソリューション： パッシブ光部品、アクティブ光部品、光ファイバ、光トランシーバ・・・
- 高速ディジタル・アプリケーション総合ソリューション： ジッタ、DDR、GbE、FPGA、USB2.0、IEEE1394、シリアルATA・・・
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計測ソリューション:
複雑化している最新テクノロジーに関して全世界に渡るアジレント・テクノロジーのネットワークにより、いち早く専門知識を身につけた日本国内のエンジニアが開発したソフトウェア、ソリューションをご紹介します。
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インサーキット・テスト・システム：3070 ICT
インサーキット・テスト・システム：3070 ICT
AgilentのMedalistテスト／検査シリーズには、画期的なテクノロジー、i3070インターキット・テスト（ICT）、システム・ソフトウェア、サービスが含まれています。
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パラメトリック・テスト
パラメトリック・テスト
ベンチトップ向けパラメータ・アナライザから、300mmファクトリオートメーションまで、オールインワン・テスト・ソルーションにより、パラメトリック・テストの限界を打ち破ります。
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Millimeter-Wave & Microwave Devices
Millimeter-Wave & Microwave Devices
Millimeter-wave and microwave integrated circuits and diodes offer superior performance for a wide range of DC to 50 GHz RF and 10 Gb/s telecom applications.
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