應用與解決方案

基本入門

• 計量學
• 儀器安全與記憶體抹除

• 儀器作業系統與軟體
• 基礎知識

蜂巢式技術

• 長期演進技術（LTE） - LTE 測試
• LTE-Advanced 測試與設計
• HSDPA / HSUPA 測試
• W-CDMA 測試
• TD-SCDMA 測試

• GSM / GPRS 測試
• 1xEV-DO 測試
• cdma2000/CDMA 測試
• 多標準無線 (MSR)
• 行動運算 - MIPI

• 毫微微蜂巢式基地台測試
• GNSS/A-GPS
• TDMA.doc
• 1G - 類比技術

無線連線能力

• WiMAX/802.16
• MIMO
• Bluetooth

• WLAN 測試
• RFID 測試
• WiMedia-based的 MB-OFDM 超寬頻 (UWB) 測試

• ZigBee
• 數位電視

航太與國防

• 雷達與電子戰 (EW) 測試
• 軍事通訊
• 衛星

• 監視及情報功能
• 航空電子設備、導引、導航和全球定位系統

• ATE 應用
• 作戰上的測試

元件與特定裝置

• 汽車傳動系統與混合電子系統
• 燃料電池電氣測試
• Solar Micro Inverter Testing
• Solar Cells & Modules

• 印刷電路板
• 放大器
• 電池
• Oscillators

• 元件建模與特性分析
• 天線量測
• 混頻器、變頻器與調變器
• 濾波器

控制與自動化

• 製造與生產測試
• LXI – 區域網路儀器延伸技術
• 建置您個人的測試系統

數位與類比設計

• 高速數位解決方案
• DDR 記憶體設計與測試
• DisplayPort 設計與測試
• Ethernet 設計與測試

• 光纖通道
• HDMI 設計與測試
• MHL
• PCIe 2.0/3.0、PCI Express® 的設計與測試資訊資源中心

• 序列 ATA (SATA)
• 串列連接 SCSI (SAS)
• USB (2.0/3.0/無線)

RF 與微波

• 射頻與微波設計
• X 參數
• 被動交互調變 (PIM) 量測
• 雜訊與雜訊指數

• 設計與測試整合
• 脈衝式 RF 量測
• EMI 與 EMC
• 信號監測與地理定位科技

• 阻抗
• ESL 設計
• 鎖相迴路

研究與大專院校

• 先進研究
• 教育人員園地 – 取之不盡的教育資源

光學與光子領域

• 光學與光子