VEE 9.0 has SCPI completion. How do I make my own SCPI command built-in with VEE?
Please refer to the attached Microsoft Word document for a step by step explanation: Agilent VEE SCPI Tool Readme
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- Productos y Servicios
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Osciloscopios, Analizadores, Medidores
- Osciloscopios
- Spectrum Analyzers (Signal Analyzers)
- Network Analyzers
- Osciloscopios de mano, Analizadores, Medidores
- Analizador Lógico
- Analizadores y ejercitadores de protocolos
- EMI/EMC, ruido de fase, prueba de la capa física
- Soluciones de prueba de la tasa de error de bit (BERT)
- Multímetro Digital (DMM)
- Medidores y sensores de potencia
- Productos de contador de frecuencia
- Analizadores de figura de ruido y fuentes de ruido
- Medidores LCR y productos de medida de la impedancia
- Digitalizadores
- Analizador de potencia DC
- Analizadores de señales dinámicas, prueba mecánica y física
- Analizadores de parámetros y dispositivos, trazadores de curvas
- Generadores, Fuentes de Alimentación
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Software
- Software de diseño y simulación EEsof EDA de Agilent
- Software de Aplicaciones para Instrumentos
- Software de Control de Instrumentos
- 89600 VSA Software
- Software de Análisis de Osciloscopio InfiniView
- Physical Layer Test System 2013 Software
- Agilent VEE
- Software Matlab
- Software "Power Analysis Manager"
- Software IFT (Interactive Functional Test)
- Wireless Test Managers
- Software "Parametric Measurement Manager Pro"
- Wideband Waveform Center
- Photonic Application Suite
- Software de Acceso Remoto FlexDCA
- Software EasyExpert y Desktop EasyEXPERT
- Software de calibración y ajuste
- Administrador de licencias de Agilent
- PXI, AXIe, Sistemas Modulares y de Adquisición de Datos
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Productos adicionales de test y medida
- Equipos de prueba de dispositivos inalámbricos y soluciones inalámbricas
- Sistemas de Prueba In-circuit 3070 ICT
- Sistemas y componentes de prueba específicos de
- Prueba paramétrica
- Pruebas y medidas fotónicas
- Microscopios de fuerza atómica, FE-SEM, nanoindentadores
- Interferómetros láser, sistemas ópticos y calibradores
- Combinadores Laser Monolíticos y Óptica de Precisión
- Dispositivos de ondas milimétricas y microondas
- GPIB, USB, accesorios, bastidores
- Equipos reacondicionados Premium
- Servicios
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Osciloscopios, Analizadores, Medidores
- Soporte Técnico
- Aplicaciones y soluciones
- Instrumentación Básica
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Móviles
- Prueba de evolución a largo plazo (LTE)
- Prueba y diseño de LTE-Advanced
- Prueba de HSPA
- Prueba de W-CDMA
- Prueba de TD-SCDMA
- Prueba de GSM, GPRS, EGPRS y flanco evolucionado
- Prueba de 1xEV-DO
- Prueba de cdma2000/CDMA
- Multi Standard Radio (MSR)
- Computación Móvil - MIPI
- Prueba de femtocelda
- GNSS y A-GPS
- Prueba de TDMA
- Prueba de tecnologías analógicas 1G
- Conectividad Wireless
- Aeroespacio y Defensa
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Componentes y Dispositivos específicos
- Automotive
- Prueba eléctrica de pilas de combustible
- Pruebas de microinversor solar
- Prueba de células solares, módulos solares y paneles solares
- Amplificadores
- Baterías
- Placas de circuito impreso
- Medidas de antena
- Modelado de dispositivos
- Filtros
- Mezcladores, convertidores de frecuencia y moduladores
- Osciladores
- Automatización y Control
- Diseño Analógico y Digital
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RF y Microondas
- Diseño de RF y microondas
- Parámetros- X
- Passive Intermodulation (PIM)
- Medidas y soluciones de la figura de ruido
- Pruebas de Diseño e Integración
- Medidas de RF por pulsos
- EMI y EMC
- Monitorización y geolocalización de señales
- Impedancia
- Diseño electrónico a nivel de sistema (ESL)
- Lazos de enganche de fase
- Universidad e Investigación
- Óptica y fotónica
- Instant Quote
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