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Tour de France – Caen, le 7 février 2012 : L’analyse de spectre et l’analyse de réseaux

En 2012, Agilent Technologies organise plus de 18 séminaires en France sur des sujets techniques variés. Un des premiers séminaires de cette nouvelle année, se déroulera à Caen le mardi 7 février prochain. Cette journée est organisée avec notre partenaire MB Electronique, et se déroulera dans les locaux de NXP, sur le campus Effiscience. Ce séminaire se déroulera en deux parties.

La matinée sera axée sur les bases de l’analyse et la génération de signaux et la modulation OFDM. La génération et l’analyse des modulations numériques sont devenues incontournables. Après avoir donc revu les dernières nouveautés et évolution technologies de l’analyse de spectre, l’objectif est de se concentrer sur la technologie OFDM, qui est aujourd’hui la modulation la plus performante. Elle est présente dans de nombreux standards, par exemple le WIFI, la TNT, la 4G… Elle est également utilisée dans de nombreux standards propriétaires civils ou militaires.


Dans l’après midi, après une présentation de l’analyse de réseaux aujourd’hui, nous nous concentrerons sur la caractérisation non‐linéaire et les paramètres X, qui représente l’un des challenges principaux lors de la conception des composants RF.

Découvrez comment résoudre vos problèmes d’aujourd’hui avec ces instruments qui sont prêts à vous suivre dans vos défis de demain. Venez discuter avec nos experts et trouvez une solution adaptée à vos besoins. Toutes les présentations de cette journée seront données en français, avec des supports en anglais.


Téléchargez les présentations :

Evolutions techniques des analyseurs de signaux ; illustration à base de la gamme d’analyseurs Agilent
Présentation des spécifications principales de mesure d’un analyseur de spectre ou d’un analyseur de signaux pour les mesures scalaires et vectorielles. Evolution de l’architecture des nouveaux analyseurs de signaux et amélioration des performances associées. Tout ceci est illustré au travers de la gamme d’analyseurs Agilent. 

Analyse de modulation OFDM
Présentation de la modulation OFDM en termes de principes et caractéristiques. Illustration avec des modulation OFDM implémentées dans des standard tels que le LTE, le WiFi ou le DVB.
Principes de génération et analyse de modulations OFDM standards, puis OFDM propriétaire, à base de logiciels et instruments Agilent

L’analyseur de réseau vectoriel aujourd’hui (évolution, performances, applications,…) ; illustration à base de la gamme d’analyseurs Agilent
L’analyseur de réseau vectoriel d’aujourd’hui doit répondre aux nouvelles exigences de performances en paramètres S. Mais il doit aussi profondément évoluer pour permettre de réaliser facilement et rapidement des mesures nécessitant ordinairement des bancs de tests complexes. Agilent propose, sur sa plate forme d’ARV PNA/PNA-X, des capacités de mesures linéaires et non linéaires sur des composants actifs telles que : IMD, Noise Figure, Gain Compression 2D, Convertisseurs de Fréquences, mesures Pulsées, Multiports, Différentielles, etc…

Caractérisations non linéaires et paramètres X à base d’analyseurs de réseau
With the proliferation of high data rate wireless communications, R&D engineers and scientists are being challenged to research and design components and systems which provide voice, video, IP, and more in a fast, compact, power-efficient format. This requires pushing semiconductor devices to their performance limits and, increasingly, into their nonlinear regions of operation.
Dealing with nonlinearity demands new measurement methodologies that go far beyond today’s linear S-parameters which fail to provide engineers with the capabilities to accurately model, simulate and improve the design flow of new product technology. In this presentation, you’ll learn the setup needed to extract X-Parameters from real devices and the usage in a design flow
 

Pour voir la liste complète des stops du Tour de France Agilent 2012, cliquer ici.