Agilent Technologies’ Application Forum – Präsentationen

Die Messtechnik-Branche hat sich am 21. Juni 2012 zum Application Forum in Berlin getroffen, um die neuesten technologischen Trends und Applikationen zu diskutieren. Hier können Sie sich die Präsentationen von dieser Veranstaltung ansehen.

**Präsentationen**
3 steps to successful vector modulation analysis - Peter Mosshammer (.pdf) S-Parameter Passive & Active Device Characterization. Choose the Best Network Analyzer for Your Application -Giovanni D’Amore, John Swanstrom & Michael Benzinger (.pdf) New impedance measurement solutions and applications using a Vector Network Analyzer (.pdf) HighSpeed aus dem Bereich Oszilloskope & Digitaltechnik - Markus Stocklas (.pdf) Measurement Trends PXI / AXIe - Roland Marquardt (.pdf) Perform Cable Test with a Network Analyzer: From Basic Measurement to Advanced Signal Integrity Measurements for Next Generation High Speed Serial Standards (.pdf)