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* AMF2013 - 7月開催 / トレーニング・コース一覧
アジレント電子計測 有料トレーニングコース一覧

トレーニング資料 2013-05-07

* イベント・カレンダー
アジレント電子計測のイベント、セミナ予定一覧

セミナー

Agilent InfiniiVision 3000 Xシリーズ オシロスコープを使用したパワー測定/解析
The webinar will discuss in detail some of the specific power supply measurements that are commonly used and how Agilent’s InfiniiVision 3000 X-Series oscilloscope can help characterize switching power supplies automatically, consistently, and fast.

ウェブセミナ(録画)

FPGAベースのレーダ・システムのミックスド・シグナル・テストの問題
Original broadcast May 17, 2012

ウェブセミナ(録画)

MIL-STD 1553およびARINC 429シリアル・バス・ネットワークの評価
このWebセミナは、最新のオシロスコープを使って、どのようにMIL-STD 1553およびARINC429シリアル・バスにトリガをかけて自動的にデコードできるかを説明します。さらに、物理層の特性の解析、アイ・ダイヤグラムを使用した合否判定テストの実行方法を紹介します。

ウェブセミナ(録画)

PCI Express® 3.0/2.0デザインでの物理層のデザインの課題
最新のPCIe 3.0仕様の要件およびPCIe 2.0/1.1デザインへの実用的な拡張に対応した、PCI Express物理層の検証の高度な技術を学習することができます。本セミナーは、トランスミッタ/レシーバ性能を解説しています。

ウェブセミナ(録画)

PCI Express® 3.0の問題とAgilentのテスト・ソリューション
 

ウェブセミナ(録画)

PCI Express® 3.0の概要と主なデザイン上の問題
 

ウェブセミナ(録画)

【無料】PCI Express® Gen3 実測ワークショップ
PCI Express Gen3実測体験ワークショップのご案内

トレーニング資料 2012-12-20

イコライゼーションのためのオシロスコープの使用
高速シリアル・バスの速度の上昇とボード材料の損失の増加により、イコライゼーションがますます重要となっています。

ウェブセミナ(録画)

オシロスコープのセグメント・メモリによる信号捕捉
このアプリケーション・ノートでは、「セグメント・メモリ」と呼ばれる機能を利用し、レーダのような短いバーストの間に、比較的長い非アクティブ期間が散在している信号捕捉の効率的な方法を紹介しています。

セミナのプレゼンテーション 2008-06-02

PDF PDF 1.17 MB
デジタルおよびフォトニックWebキャスト・シリーズ
高速デジタル・テストの問題解決と40/100 G光ネットワークへの準備

ウェブセミナ

デジタル関連 トレーニングコースコースお申し込みフォーム
実際にデジタル・オシロスコープを操作しながら、測定原理を正しく理解し正しい信号評価方法を身につけることをめざします。測定原理を豊富な実習と織り交ぜながらわかりやすく説明。 実習用測定器はひとり1台を確保。

トレーニング資料 2012-11-19

マイクロコントローラベースの設計のデバッグ向上についてのシンポジウム
8ビットおよび16ビット・マイクロコントローラを迅速にデバッグすることが、タイムリーに製品化し、市場に出すために重要です。

セミナのプレゼンテーション 2003-04-24

新しいM8190A AWGによるコヒーレント光通信のスペクトラム効率の向上
ソーシャル・ネットワークやビジュアル・オンライン・コンテンツにより、データ・トラフィックは、2015年までに月間6.3 EBに達するものと予想されます。このため、プロバイダは自社のネットワークをそれに対応させる必要があります。次回のWebセミナーでは、この問題への対処方法を提案します。

ウェブセミナ(録画)

新しい高速DDRプロービング/解析ツール
EMEAセッション:新しい高速DDRプロービング/解析ツール

ウェブセミナ(録画)

計測の基礎セミナ オシロスコープ編
デジタル・オシロスコープの選定、プローブによる接続、デジタル・オシロスコープでの測定

セミナのプレゼンテーション 2009-09-01

PDF PDF 2.18 MB
高度なパラメトリック・トリガ機能を使用してデジタル・デザインを迅速にデバッグできます
高度なパラメトリック・トリガ機能により、オシロスコープでの各捕捉を同期して複雑な信号動作を表示することができます。セットアップおよびホールド、エッジ速度、パルス振幅(ラント)、パルス幅などに関する信号のパラメトリック違反条件を見つけることができます。

ウェブセミナ(録画)

.All Webcast On-Demand Recordings
Access the free, On-Demand (recorded) webcasts

ウェブセミナ

100G TX Designs - Tips & Techniques for Accurate Characterization Webcast
Original broadcast on February 27, 2013

ウェブセミナ(録画)

86100C/83496B and E5052B SSA-J Phase Noise e-Seminar
You've Measured The Jitter, Now How Do You Reduce It? (1 hour, recorded April 26, 2007)

セミナのプレゼンテーション 2007-04-26

Accelerating USB 3.0 Product Development
Super speed USB presents new challenges for designers and developers. Whether you are designing host, hub or device, Electrical or protocol, Agilent offers a complete solution for debug and validate your design.

ウェブセミナ(録画)

Addressing the Challenges of Wideband Radar Signal Generation and Analysis
Originally broadcast June 30, 2011

ウェブセミナ(録画)

Application-focused Oscilloscope Measurements – Education Webcast Series
Live broadcasts throughout 2013

ウェブセミナ

Battery Run-time: Innovative Measurements / Greater Insights Webcast
Original broadcast April 30, 2013

ウェブセミナ(録画)

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