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EM Insights Series
The EM Insights series is a collection of EM applications from Agilent EEsof EDA.

アプリケーション・ノート 2013-05-06

Noise Figure Measurement Accuracy - The Y-Factor Method - Application Note
Noise figure is a key performance parameter in many RF systems. This application note covers many topics related to noise figure measurements including the Y-factor method.

アプリケーション・ノート 2013-04-12

PDF PDF 1.36 MB
Electronic System-Level (ESL) Applications Center
Electronic System-Level application examples highlighting Agilent’s broad range of ESL applications, design functions and product areas.

アプリケーション・ノート 2013-04-02

Using SystemVue for Integrating Wireless PHY Design, Validation, and Test
Agilent SystemVue integrates system-level design tasks such as DSP modeling and Algorithm development with Validation and Test to create a unique new design flow for communications physical layer.

アプリケーション・ノート 2013-03-28

PDF PDF 8.17 MB
IBIS AMIチャネル・シミュレーション・フローを用いたSERDESデザインについて
最新のチップ間リンクのシミュレーションでは、SPICEベースのアプローチに代わり、IBIS AMIチャネル・シミュレーション・フローに基いた新しいアプローチを採用する必要があります。

アプリケーション・ノート 2013-02-15

PDF PDF 415 KB
言語 
Equivalent Circuit Based Models For Surface Mount RLC Components
Modelithics white paper on understanding S-parameter versus equivalent circuit-based models for surface mount RFC components.

アプリケーション・ノート 2013-02-06

High-Accuracy Noise Figure Measurements Using the PNA-X Series Network Analyzer – App Note 1408-20
This application note discusses the unique challenges involved in minimizing noise figure.

アプリケーション・ノート 2013-01-31

PDF PDF 2.54 MB
Simulating Envelope Tracking with Advanced Design System
This example applies envelope tracking to an example amplifier to show techniques of using Advanced Design System (ADS) for this type of design.

アプリケーション・ノート 2012-11-22

PDF PDF 2.30 MB
Vector Signal Analysis Basics
This application note serves as a primer on vector signal analysis. It covers VSA measurement concepts and theory of operation, general vector-modulation analysis and, digital-modulation analysis. Previously known as AN150-15.

アプリケーション・ノート 2012-11-21

PDF PDF 4.02 MB
言語 
Creating C++ Algorithms in SystemVue Using Model Builder
The SystemVue C++ Model Builder interface provides a powerful mechanism for exploring signal processing algorithms for communications system design.

アプリケーション・ノート 2012-11-14

PDF PDF 1.53 MB
PNA-Xシリーズ マイクロ波　ネットワーク・アナライザ

アプリケーション・ノート 2012-11-07

PDF PDF 5.82 MB
言語 
Impedance and Network Analysis Application List Application Note
This document provides the information of unique and new solutions for impedance and network analysis with using Agilent impedance analyzers, LCR meters and ENA series network analyzers.

アプリケーション・ノート 2012-10-30

PDF PDF 1.11 MB
雑音指数の不確かさ計算機
雑音指数不確かさ計算機は、常に要求される高いシステム性能に対応できるように、コンポーネントからシステムまでのデザイン作業を支援します。

解析ツール 2012-10-18

Wideband Digital Pre-Distortion with Agilent SystemVue and PXI Modular Instrument
Digital Pre-Distortion (DPD) is essential for wideband communications systems based on LTE-Advanced and 802.11ac. Overcome DPD challenges with trusted commercial measurement and modeling tools.

アプリケーション・ノート 2012-10-15

PDF PDF 1.03 MB
言語 
Virtual Flight Testing of Radar System Performance
Agilent SystemVue and AGI STK can be integrated to provide virtual flight testing of radar and electronic warfare algorithms, saving both time and money.

アプリケーション・ノート 2012-09-21

PDF PDF 633 KB
FPGA Prototyping Using Agilent SystemVue
This application note describes a top-down FPGA design flow using SystemVue for rapid prototyping of physical layer communications signal processing.

アプリケーション・ノート 2012-08-30

PDF PDF 3.37 MB
スイッチング電源の実装における電磁界シミュレータを用いたEMC解析

アプリケーション・ノート 2012-07-26

PDF PDF 2.76 MB
ソリューション：最新の4G通信システムに対応　高速で実用的なデジタル・プリディストーションの実現

アプリケーション・ノート 2012-07-18

PDF PDF 1.14 MB
言語 
インピーダンス測定技術を用いた誘電体、磁性体材料測定 AN1369-1
本アプリケーションノートでは、インピーダンス測定技術を用いた誘電体材料、磁性体材の測定方法と測定システムについて解説します。

アプリケーション・ノート 2012-05-11

PDF PDF 2.76 MB
言語 
Innovative Passive Intermodulation (PIM) and S-parameter Measurement Solution with the ENA
This application note introduces the solution that combines PIM and S-parameter measurements by using the vector network analyzer.

アプリケーション・ノート 2012-05-09

HTML HTML
Testing next-generation optical systems with simulated OFDM signals
The described measurement solution with SystemVue and M8190A AWG is flexible enough to handle a wide range of modulation schemes, channel spacings, spectral widths and detection methods.

アプリケーション・ノート 2012-02-19

PDF PDF 600 KB
Mixed-Signal Integration Challenges in Complex Radar Systems
Using A Common Measurement Platform to Address the Mixed-Signal Integration Challenges in Complex Radar Systems presents an alternate design and test approach for today’s complex radar systems.

アプリケーション・ノート 2012-02-10

PDF PDF 1.99 MB
Using Agilent SystemVue to Create Realistic Scenarios for Radar and EW Applications
Shows how the combination of software and hardware capabilities makes it possible to create dynamic and realistic scenarios for both component testing and scenario simulation for system test.

アプリケーション・ノート 2012-01-24

PDF PDF 3.01 MB
Average Power Sensor Measurement Uncertainty Calculator
Measurement Uncertainty Calculator for the Average Power Sensors (N8481A, N8482A, N8485A, N8481A-CFT, N8482A-CFT, N8485A-CFT, 8481D, 8485D, 8487D, R8486D, Q8486D, E4412A, E4413A, E9300A, E9301A, E9304A, E9300B, E9301B, E9300H, E9301H)

アプリケーション・ノート 2011-11-30

XLS XLS 76 KB
Load Pull + NVNA = Enhanced X-Parameters for PA Designs
With high mismatch and technology-independent large-signal device models.

アプリケーション・ノート 2011-09-08

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