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* AMF2013 - 7月開催 / トレーニング・コース一覧アジレント電子計測　有料トレーニングコース一覧トレーニング資料 2013-05-07
* イベント・カレンダーアジレント電子計測のイベント、セミナ予定一覧セミナー
高速デジタル・デバイス用の高度な製品デザイン／テストのWebキャスト Original broadcast Jan 18, 2012 ウェブセミナ（録画）
Advanced Product Design & Test for High-Speed Digital Devices Webcast Original broadcast Jan 18, 2012 ウェブセミナ（録画）
Agilent EEsof EDA Customer Education and Services Brief overview of Agilent EEsof EDA Customer Education and Services. トレーニング資料 2010-08-11
Automating On-Wafer Measurements with the new Agilent IC-CAP WaferPro Originally broadcast Jan 27, 2011 ウェブセミナ（録画）
Breakthrough in High Speed Interconnect Analysis and Compliance Testing Originally broadcast April 27, 2011 ウェブセミナ（録画）
EMC 2013 - IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility August 5- 9, 2013; Denver, CO トレードショー
Genesys Webcasts - "How-To-Design" series Originally broadcast in 2009. Access the 6 WebEX recordings ウェブセミナ（録画）
Hybrid-Active Load Pull with PNA-X and Maury Microwave Original broadcast Jun 12, 2012 ウェブセミナ（録画）
IMS 2011 (IEEE MTT-S) – Connect, Expert to Expert, at Agilent Avenue 2011 show, last June, 2011; Baltimore Convention Center トレードショー
Innovations in EDA: Accurate Modeling of GaAs & GaN HEMT’s for Nonlinear Applications Webcast Original broadcast May 7, 2013 ウェブセミナ（録画）
Measurement Based FET Modeling using Artifical Neural Networks (ANN) This presentation was given by Jianjun Xu with introduction by David Root as part of the Innovations in EDA Webcast Series. セミナのプレゼンテーション 2012-02-07	PDF 2.51 MB
New impedance measurement solutions & apps using 5 Hz to 3 GHz VNA Originally broadcast April 19, 2011 ウェブセミナ（録画）
Nonlinear Characterization and Modeling Through Pulsed IV/S-Parameters Original broadcast Mar 27, 2012 ウェブセミナ（録画）
Optimizing PXI Modular Functional Test System Throughput Webcast Originally broadcast April 27, 2011 ウェブセミナ（録画）
PCI Express(R) 3.0 Strategies for Transmitter and Receiver Validation Originally broadcast Feb 10, 2011 ウェブセミナ（録画）
Presentation on BSIM4, BSIM3v3 and BSIMSOI RF MOS Modeling This Presentation by Dr. Thomas Gneiting (Advanced Modeling Solution) was presented at Agilent EEsof EDA Seminar, April 04, 2001 details the structure of BSIM3v3, BSIMSOI and BSIM4 RF models. セミナのプレゼンテーション 2001-04-04	PDF 1.49 MB
Presentation on DC & AC Characterization of Semiconductors This Presentation focuses on basics of device measurement and modeling techniques from DC to RF, special aspects of network analyzer calibration, de-embedding and required dummy structures. セミナのプレゼンテーション 2003-01-28	PDF 893 KB
Setting Up IC-CAP WaferPro For On-Wafer Measurements originally broadcast June 22, 2011 ウェブセミナ（録画）
Setting up IC-CAP WaferPro for On-Wafer Measurements IC-CAP WaferProIs is an extremely powerful test plan suite, for on-Wafer DC/CV and RF device modeling measurements. セミナのプレゼンテーション 2011-06-22	PDF 3.07 MB

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