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* AMF2013 - 7月開催 / トレーニング・コース一覧アジレント電子計測　有料トレーニングコース一覧トレーニング資料 2013-05-07
* イベント・カレンダーアジレント電子計測のイベント、セミナ予定一覧セミナー
ハイ・パワー・デバイスのテストの問題を解決する、新しいパワー・デバイス・アナライザ／カーブ・トレーサ　ウェブセミナ（録画）
パラメトリック・テストの基礎トレーニング：パート1 Originally broadcast Sept 15, 2010 ウェブセミナ（録画）
携帯端末（UE）デザインの最適化によるバッテリ動作時間の向上 Original broadcast April 26, 2012 ウェブセミナ
Automating On-Wafer Measurements with the new Agilent IC-CAP WaferPro Originally broadcast Jan 27, 2011 ウェブセミナ（録画）
Battery Run-time: Innovative Measurements / Greater Insights Webcast Original broadcast April 30, 2013 ウェブセミナ（録画）
DC Power supply fundamentals to get the most out of your applications With modern performance and safety features in power supplies, the flexibility exists to create test setups that are simpler and more effective. This web seminar covers 10 fundamentals about your power supply to take advantage of these features. ウェブセミナ（録画）
Innovations in EDA Webcast: Measurement-based FET modeling using Artificial Neural Networks (ANNs) Original broadcast Feb 2, 2012 ウェブセミナ（録画）
Modern Remote and Wireless Test Setup and Considerations This seminar describes remote/wireless test setups and configurations with LXI compliant instruments with low cost, off the shelf network products. We review local and long distance wireless test, security hurdles and using smart devices and clouds. ウェブセミナ（録画）
New Benchtop SMUs with Color GUI Meet Difficult Component Test Challenges The B2900A series of SMU's provide a new high speed, cost effective measurement solution that significantly reduces test time and test cost. ウェブセミナ（録画）
New Benchtop SMUs with Color GUI Meet Difficult Component Test Challenges Webcast Originally broadcast June 16, 2011 ウェブセミナ（録画）
New Power Device Measurement Solutions (1500 A / 10 kV) Original broadcast June 19, 2012 ウェブセミナ（録画）
Optimise UE design for greater battery run-time This web seminar will discuss the challenges of verifying battery consumption during different UE operating modes and the tools available to measure the effects in power consumption. ウェブセミナ（録画）
Optimize UE Design for Greater Battery Run-Time Original broadcast April 26, 2012 ウェブセミナ
Optimize Wireless Device Battery Run-time: Two Part Webcast Series Original roadcasts Aug 22 & Sept 19, 2012 ウェブセミナ（録画）
Optimizing Battery Operating Time of Wireless Devices Original broadcast Aug 10, 2011 ウェブセミナ（録画）
Optimizing Battery Operating Time of Wireless Devices This webcast will go on to discuss an Agilent exclusive feature called "seamless measurement ranging" which overcomes the limitations of traditional techniques for battery current drain testing. ウェブセミナ（録画）
Parametric Test Basic Training Part 2 Originally broadcast Jan 19, 2011 ウェブセミナ（録画）
Semiconductor Parametric Test: Back to Basics Part 2 The "Back to Basics Part 2" seminar provides practical tips and techniques on making fast pulse IV measurements and practical capacitance measurement considerations. ウェブセミナ（録画）
Setting Up IC-CAP WaferPro For On-Wafer Measurements originally broadcast June 22, 2011 ウェブセミナ（録画）
Simulating Power Transients and Noise Original broadcast Jun 21, 2012 ウェブセミナ（録画）
Small signal, low level, DC Parametric measurements: Back to Basics Part 1 The "Back to Basics Part 1" seminar provides practical tips and techniques on making low level DC Parametric measurements. ウェブセミナ（録画）
The Fundamentals of IV Measurement Live broadcast Apr 10, 2012; 10am Pacific / 1pm Eastern ウェブセミナ
Today’s Power Supplies: Meeting Basic and Sophisticated Application Requirements Originally broadcast June 29, 2011 ウェブセミナ（録画）

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