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* イベント・カレンダーアジレント電子計測のイベント、セミナ予定一覧セミナー
お客様必見！「デジタイザ計測技術とその応用」に関するWebセミナ Original broadcast Mar 21, 2012 ウェブセミナ（録画）
パラメトリック・テストの基礎トレーニング：パート1 Originally broadcast Sept 15, 2010 ウェブセミナ（録画）
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Automating On-Wafer Measurements with the new Agilent IC-CAP WaferPro Originally broadcast Jan 27, 2011 ウェブセミナ（録画）
Boundary Scan Test Methods for DDR Memories Originally broadcast May 18, 2010 ウェブセミナ（録画）
Calibration Webcast Series What is Calibration? Why Calibrate? What do you really need? What should you ask for? Should you care about measurement uncertainty? What should you get back from a Cal lab? Please attend if you’d like to learn the answers to these questions! ウェブセミナ
Developing Measurement and Analysis Systems with Agilent Instruments Webcast Original broadcast December 4, 2012 ウェブセミナ（録画）
Digitizer Design Fundamentals for Superior Measurements Original broadcast Mar 21, 2012 ウェブセミナ（録画）
Driving Down Test Cost, Schedule & Risk with Smart Switching Original broadcast May 30, 2012 ウェブセミナ（録画）
Effective Crosstalk Characterization Webcast Original broadcast January 24, 2013 ウェブセミナ（録画）
Innovations in EDA Webcast: Measurement-based FET modeling using Artificial Neural Networks (ANNs) Original broadcast Feb 2, 2012 ウェブセミナ（録画）
Learn about the latest i3070 ICT productivity tools from us, DeMille Research, and Derby Associates Originally broadcast Aug 24, 2010 ウェブセミナ（録画）
Modern Remote and Wireless Test Setup and Considerations This seminar describes remote/wireless test setups and configurations with LXI compliant instruments with low cost, off the shelf network products. We review local and long distance wireless test, security hurdles and using smart devices and clouds. ウェブセミナ（録画）
New impedance measurement solutions & apps using 5 Hz to 3 GHz VNA Originally broadcast April 19, 2011 ウェブセミナ（録画）
Parametric Test Basic Training Part 2 Originally broadcast Jan 19, 2011 ウェブセミナ（録画）
Predictive Test Coverage Tool Webcast – How to Quickly Determine Potential Test Coverage & Strategy Originally broadcast Oct 20, 2010 ウェブセミナ（録画）
Programming Static and Dynamic Data into a I2C EEPROM and Serial Flash on the 3070 Originally broadcast April 13, 2010; webex ウェブセミナ（録画）
PXI, AXIe, DAQ and Modular Solutions Webcast Series Live and on-demand webcasts, various dates in 2012 ウェブセミナ
Reduce Test Time, Increase Fault Coverage with the new Medalist i3070 Series 5 and the 8.1 Software Originally broadcast July 13, 2010 ウェブセミナ（録画）
RF and Microwave Education Series 2013 Webcast Series ウェブセミナ（録画）
Setting Up IC-CAP WaferPro For On-Wafer Measurements originally broadcast June 22, 2011 ウェブセミナ（録画）
The Importance and Value of PXI Multi-Vendor Interoperability Original broadcast March 28, 2012 ウェブセミナ（録画）
Today’s Power Supplies: Meeting Basic and Sophisticated Application Requirements Originally broadcast June 29, 2011 ウェブセミナ（録画）

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