テクニカルサポート
EMI/EMC、雑音指数、物理層テスト
絞込み
アプリケーション
-
その他のアプリケーション
- レーダ・テストおよび電子戦(EW)テスト
コンテンツのタイプ
- 技術資料 ライブラリ
- アプリケーション・ノート
- アプリケーション・ノート (2)
- アプリケーション・ノート
製品カテゴリ
-
EMI/EMC、雑音指数、物理層テスト
- 位相雑音測定システム (2)
1-2 / 2
|
Characterizing phase-locked-loop signal transition behaviors of Microphonic/Phase-hit
This paper discusses how Agilent's Signal Source Analyzer helps you to identify unwanted phase-locked-loop transition "phase-hits", and achieve easy, comprehensive and accurate phase-locked-loop characterization in both linear and nonlinear regions.
アプリケーション・ノート 2008-10-02 |
|
|
Pulsed Carrier Phase Noise Measurements (AN 1309)
This application note discusses basic fundamentals for making pulsed carrier phase noise measurements using Agilent E5500 phase noise measurement system.
アプリケーション・ノート 2000-05-01 |
|
