お問い合わせ窓口

テクニカルサポート

電子計測

製品モデル番号で検索: 例：34401A, E4440A

絞込み

絞込みのリセット

アプリケーション

コンテンツのタイプ

1-5 / 5

並べ替え
高精度タイム・ドメイン・リフレクトメトリ
システムが高速化し、コンポーネントの形状が小さくなると、基本的なTDR測定システムの精度や分解能の限界を越えてしまう場合があります。このアプリケーション・ノートでは、測定システムの適用限界や測定誤差の原因、精度を高めるための実践的な技術と有用な手法について説明しています。

アプリケーション・ノート 2004-04-20

PDF PDF 4.07 MB
言語 
High-Precision TDR with the Agilent 86100 DCA & Picosecond Pulse Labs 4020 Source Enhancement Module
Learn how to build a high-precision time-domain reflectometry/time-domain transmission measurement system.

アプリケーション・ノート 2003-09-12

PDF PDF 288 KB
ショートRambus(R)マザーボードのトレースとスモール・アウトラインRIMM(TM) の特性インピーダンスの測定 AN1304-4
本アプリケーション・ノートでは、高速ディジタル信号の品質測定時に使用するテスト機器と代表的な測定方法について説明します。

アプリケーション・ノート 2002-09-30

PDF PDF 707 KB
言語 
タイム・ドメイン・リフレクトメトリによるマイクロストリップの特性評価
本カタログは、プリント回路基板のもととなるマイクロストリップ線路の評価を実験例を引用して紹介しています。

アプリケーション・ノート 2001-01-31

PDF PDF 496 KB
言語 
タイム・ドメイン・リフレクトメトリの原理 AN1304-2
本アプリケーション・ノートでは、タイム・ドメイン・リフレクトメトリの基本原理をご説明します。また、反射解析や基本的負荷のオシロスコープ表示など、TDR のより実用的な面もいつくか取り上げます。

アプリケーション・ノート 2000-03-01

PDF PDF 1.42 MB
言語