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スペクトラム解析の基礎
本アプリケーション・ノートでは、掃引同調スーパーヘテロダイン・スペクトラム・アナライザの基礎と、最新のスペクトラム・アナライザの機能について説明しています。

アプリケーション・ノート 2014-06-06

Optimizing Dynamic Range for Distortion Measurements
This Product Note covers high dynamic range measurement techniques for the new PSA Performance Spectrum Analyzer Series. The Note describes the best way to use the PSA series to make distortion measurements such as ACP, intermodulation, and harmonic distortion.

アプリケーション・ノート 2011-10-27

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Bluetooth RF測定の基礎
Bこのアプリケーション・ノートでは、Bluetooth RF 設計をテストし検証するための送信機および受信機の測定について説明します。

アプリケーション・ノート 2010-10-18

RF およびマイクロ波の雑音指数測定の基礎 AN57-1
現在の受信システムは、しばしば微弱な信号を処理しなければなりませんが、システムのコンポーネントによって追加される雑音のために微弱な信号は覆い隠されがちとなります。感度、ビット・エラー・レート(BER)、...

アプリケーション・ノート 2010-08-05

Agilent PNA-X ネットワーク・アナライザ 10 MHz ~ 26.5 GHz
このアプリケーション・ノートでは、Agilent PNA-X マイクロ波ネットワーク・アナライザによる2 トーン相互変調歪み測定の確度に関する注意事項を説明しています。

アプリケーション・ノート 2009-10-29

ENA 用メジャメント・ウィザード・アシスタント(MWA) ソフトウェア
MWA は、2 つのメイン・ アプリケーションから構成されています。

アプリケーション・ノート 2009-07-31

ハイブリッド・テスト・システムの構築、パート2
ハイブリッド・テスト・システムの構築、パート2

アプリケーション・ノート 2008-10-15

Best of 8 Hints for Making Better Oscilloscopes Measurements
Agilent engineers sharing ideas of how to use the equipment they design

アプリケーション・ノート 2008-03-17

PDF PDF 320 KB
PNA-X アプリケーション:電力付加効率(PAE)
電力付加効率(PAE)は、パワーアンプのパワー変換効率の指標です。理想的には、アンプへ供給されるすべてのパワーが出力パワーに変換されることです。しかし、実際にはそうならないので、PAE はパワーアンプの重要な性能パラメータです。

アプリケーション・ノート 2008-02-18

How to Use IVI-COM Drivers in Agilent VEE Pro 8.0
This paper describe how easy to use IVI-COM driver in Agilent VEE Pro that allows instruments interchangeability while still providing quality and high performance.

アプリケーション・ノート 2007-06-08

PDF PDF 295 KB
8 Hints for Solving Common Debugging Problems with Your Logic Analyzer (AN 1326)

アプリケーション・ノート 2007-04-19

Using the VISA COM I/O API in .NET - Application Note
The Microsoft .NET architecture has many features that make it an excellent environment for Test & Measurement programmers. VISA COM I/O is an update of the older VISA C API to work in and with COM technology.

アプリケーション・ノート 2007-03-16

PDF PDF 345 KB
スペクトラム・アナライザ測定を成功させる8つのヒント
スペクトラム・アナライザはオシロスコープと同様、信号の観測に使用する基本測定器です。オシロスコープがタイム・ドメインの観測をするのに対し、スペクトラム・アナライザは周波数ドメインの観測をします。

アプリケーション・ノート 2007-02-05

広帯域/狭帯域検波方式を使用したパルスドRF Sパラメータ測定
このアプリケーション・ノートでは、AgilentのPNAシリーズ・マイクロ波ベクトル・ネットワーク・アナライザの新しいパルスドRF Sパラメータ測定手法/機能を説明しています。

アプリケーション・ノート 2006-07-28

Agilentの高度な校正手法を使用したトランシーバFPGAの検証
FPGA内のギガビット・トランシーバ・ブロックは、高速チャネルの性能を低下させないために注意深いデザインが必要です。本書は、このようなFPGA高速チャネルの性能を適切かつ正確に解析するための、最先端の校正手法について解説しています。

アプリケーション・ノート 2005-09-07

Using LAN in Test Systems: Applications (1465-14) - Application Note and Example Programs
Topics include balancing cost, convenience and security in three common LAN scenarios: sharing instruments, remote monitoring and data acquisition, and functional test systems. Includes downloadable example programs.

アプリケーション・ノート 2005-04-01

Using LAN in Test Systems: Setting up System I/O (AN 1465-15) - Application Note
This set of application notes shows you how to simplify test system integration by utilizing open connectivity standards such as local area networking (LAN). The collective goal of these notes is to help you produce reliable results, meet your throughput requirements and stay within your budget.

アプリケーション・ノート 2005-03-29

PDF PDF 263 KB
Test-System Understanding Drivers and Direct I/O (AN 1465-3) - Application Note
This application note answers common questions about the use of drivers and direct I/O to send commands from a PC application to the test instrument.

アプリケーション・ノート 2004-12-21

PDF PDF 374 KB
Using SCPI and Direct I/O vs. Drivers (AN 1465-13) - Application Note
Using SCPI and Direct I/O vs. Drivers, the fifth note in the series, outlines the relationship between input/output (I/O) software, application software and the ability to maximize instrument interchange and software reuse in present and future systems

アプリケーション・ノート 2004-12-13

PDF PDF 408 KB
Test-System Computer I/O Considerations (AN 1465-2) - Application Note
The first application note in the series, Introduction to Test-System Design, covers test-system philosophy and planning and discusses how test is used in three sectors: R&D, design validation and manufacturing

アプリケーション・ノート 2004-12-09

PDF PDF 189 KB
Using USB in the Test and Measurement Environment (AN 1465-12) - Application Note
Simplify test integration with USB interface. Whether you’re setting up an ad hoc system on a lab bench or designing a permanent solution for a manufacturing line, the three best choices today for connecting modern instrumentation to computers are GPIB, LAN, and USB.

アプリケーション・ノート 2004-11-19

PDF PDF 194 KB
PNAシリーズ:ハイパワー増幅器テストにおける推奨事項
このアプリケーション・ノートでは、Agilentのマイクロ波(MW)PNAネットワーク・アナライザを使用したハイパワー増幅器のテストに固有の問題について説明します。

アプリケーション・ノート 2004-10-22

System Developer Guide Using LAN in Test Systems - PC Configuration (AN 1465-11) - Application Note
Using LAN in Test Systems: PC Configuration,the third note in the series, describes the additional capabilities required to enable communication between a PC and LAN-enabled instrumentation. This note is a companion to Application Notes 1465-9 and 1465-10.

アプリケーション・ノート 2004-10-19

PDF PDF 204 KB
Using LAN in Test Systems - Network Configuration (AN 1465-10) - Application Note
The decision to use LAN in a test system delivers important benefits to your company and your team. From a business perspective, intense competition among equipment vendors has produced a wide selection of high quality, low-cost solutions for local area networking

アプリケーション・ノート 2004-09-14

Using LAN in Test Systems - The Basics (AN 1465-9) - Application Note
The basic purpose of any test system is to characterize and validate the performance of electronic components, assemblies or products. The complexity of this task depends on variables such as the physical nature of the device under test (DUT), the number of tests to be performed, the number of signals to be measured and the desired time per test.

アプリケーション・ノート 2004-07-29

PDF PDF 270 KB

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