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電子計測

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アジレント電子計測のイベント、セミナ予定一覧

セミナー

PCI Express® 3.0の問題とAgilentのテスト・ソリューション
 

ウェブセミナ(録画)

PCI Express® 3.0の概要と主なデザイン上の問題
 

ウェブセミナ(録画)

トレーニング一覧/電子計測コンサルティング・センター(CoE)
アジレント電子計測 有料トレーニングコース一覧

トレーニング資料 2013-12-10

Accelerate DDR4/LPDDR3 Memory Debug with Bus level Signal Integrity Insight Webcast
Original broadcast March 4, 2014

ウェブセミナ(録画)

Addressing Design and Test Challenges for the New LTE-Advanced Standard Webcast
Original broadcast July 15, 2014

ウェブセミナ(録画)

DesignCon 2014
Jan 28-31, 2014; Santa Clara Convention Center Download papers presented, order the AEF DVD

トレードショー

Next generation BERT Ensures Signal Integrity in High-speed Digital Designs Webcast
Original broadcast January 21, 2014

ウェブセミナ(録画)

Practical Guide to 100G Electrical Compliance Testing Webcast
Original broadcast August 28, 2013

ウェブセミナ(録画)

Primer: A Day in the Life of your Cell Phone
Live broadcast July 24, 2014; 10am PT/1pm ET

ウェブセミナ

Test and Validation of PCIe/NVMe Protocol Designs Webcast
Original broadcast July 10, 2014

ウェブセミナ(録画)

USB Test Challenges: Fast and Accurate Receiver Characterization Webcast
Original broadcast July 16, 2014

ウェブセミナ(録画)

Vector Modulation and Frequency Conversion Fundamentals Webcast
Original broadcast July 18, 2013

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