テクニカルサポート
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Bluetooth RF測定の基礎
Bこのアプリケーション・ノートでは、Bluetooth RF 設計をテストし検証するための送信機および受信機の測定について説明します。
アプリケーション・ノート 2010-10-18 |
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RF およびマイクロ波の雑音指数測定の基礎 AN57-1
現在の受信システムは、しばしば微弱な信号を処理しなければなりませんが、システムのコンポーネントによって追加される雑音のために微弱な信号は覆い隠されがちとなります。感度、ビット・エラー・レート（BER）、...
アプリケーション・ノート 2010-08-05 |
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Diagnostic Testing and the Medalist 5DX Automated X-ray Inspection System
Users of the Medalist 5DX automated x-ray inspection system can benefit from running diagnostic tests on a regular basis. This application note provides some guidelines.
アプリケーション・ノート 2009-01-14 |
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Medalist i3070 Test Throughput Optimization
This application note explores some factors which cause test time to increase on the Medalist i3070 In-Circuit Test system, and methods which users can employ to reduce the test time and increase throughput on the Medalist i3070 ICT system.
アプリケーション・ノート 2008-11-24 |
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IEEE 1149.6 Standard Boundary Scan Testing on Agilent Medalist i3070 ICT Systems
This paper introduces the latest advancements in Boundary Scan test capabilities on the Agilent Medalist i3070 In-Circuit Test platform that supports the testing of IEEE 1149.6-compliant devices.
アプリケーション・ノート 2008-11-24 |
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Exposed Pad Algorithm for the Medalist x6000 AXI System
This application note describes how to use the exposed pad algorithm in the Medalist x6000 AXI software to test all varieties of QFN and FET package types for defects such as Open and Voiding.
アプリケーション・ノート 2008-10-21 |
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ハイブリッド・テスト・システムの構築、パート2
ハイブリッド・テスト・システムの構築、パート2
アプリケーション・ノート 2008-10-15 |
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Medalist 5DX自動X線システムでの製造不良アナライザの検出パラメータの調整
製造不良アナライザは、ボードのZ高さをわずかに変更し、疑わしい接合を再検査することによって動作します。
アプリケーション・ノート 2008-09-30 |
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First pass Yield (FPY) and Alarm Triggers on the Agilent Medalist i3070 In-circuit Test System
This application note will explain some customizations and how to create alarm triggers.
アプリケーション・ノート 2008-09-26 |
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Setting Up HotKeys for AXI products on the Agilent Medalist Repair Tool
Users of the Agilent Medalist Repair Tool, also known as the Agilent Repair Tool (ART), can setup hot keys to increase the efficiency of image viewing in RT4.0 for their X-ray inspection products.
アプリケーション・ノート 2008-09-26 |
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Build Operator Menu: Multiple Menu Configuration Control for 5DX Auto User Interface
The "Build Operator Menu" software replaces and extends the functionality found in the BLDOPMNU DOS command. This application note provides useful user information about this menu.
アプリケーション・ノート 2008-09-04 |
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Medalist 5DX自動X線検査システムの表面マップ・パラメータの調整
Medalist 5DX自動X線検査システムの表面マップ・パラメータの調整
アプリケーション・ノート 2008-08-27 |
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Quad Flat No Lead (QFN) Best Practices
The purpose of this application note and best practices guide is to describer the QFN-type component and provide testing methods to ensure robust testing on the Medalist 5DX Automated X-ray Inspection (AXI) System.
アプリケーション・ノート 2008-08-26 |
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Merging Windowed Deposits in CamCad on Agilent’s Automated Optical Inspection (AOI) Systems
In many stencil designs, windowed deposits are used to apply paste to a large pad. This document provides some tips for dealing with this.
アプリケーション・ノート 2008-07-23 |
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Best of 8 Hints for Making Better Oscilloscopes Measurements
Agilent engineers sharing ideas of how to use the equipment they design
アプリケーション・ノート 2008-03-17 |
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Comparing CAD and BOM data for 5DX Use
Instructions for comparing CAD and BOM data to quickly deal with no load components.
アプリケーション・ノート 2008-01-04 |
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Agilent Medalist Bead Probe Technology
Agilent Medalistビード・プローブ技術は、プリント基板アセンブリ(PCBA) 上にテスト・プローブ（ビード）を設置し、これを使ってPCBAをテストする独自のテクノロジーです。
アプリケーション・ノート 2007-07-11 |
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2.46 MB
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Agilent Medalist VTEP v2.0（VTEP、iVTEP、NPM）によるテスト・カバレージの拡大
この記事では、Agilent Technologiesの新しいベクターレス・テスト手法、Medalist VTEP v2.0を最大限に活用するための方法について説明します。
アプリケーション・ノート 2007-07-11 |
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2.11 MB
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Medalist 3070 and Medalist i5000 System Recovery using Retrospect Express
This app note describes how to perform backups of the system hard disk for the Agilent Medalist 3070 and Agilent Medalist i5000 In-circuit Test systems that have been shipped with Retrospect Express 7.0 and Roxio Digital Media Plus 7.2 software.
アプリケーション・ノート 2007-07-10 |
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How to Use IVI-COM Drivers in Agilent VEE Pro 8.0
This paper describe how easy to use IVI-COM driver in Agilent VEE Pro that allows instruments interchangeability while still providing quality and high performance.
アプリケーション・ノート 2007-06-08 |
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スペクトラム・アナライザ測定を成功させる8つのヒント
スペクトラム・アナライザはオシロスコープと同様、信号の観測に使用する基本測定器です。オシロスコープがタイム・ドメインの観測をするのに対し、スペクトラム・アナライザは周波数ドメインの観測をします。
アプリケーション・ノート 2007-02-05 |
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広帯域／狭帯域検波方式を使用したパルスドRF Sパラメータ測定
このアプリケーション・ノートでは、AgilentのPNAシリーズ・マイクロ波ベクトル・ネットワーク・アナライザの新しいパルスドRF Sパラメータ測定手法／機能を説明しています。
アプリケーション・ノート 2006-07-28 |
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Agilentベクトル・ネットワーク・アナライザ用の校正標準／キットの設定
このアプリケーション・ノートでは、校正標準の定義、校正キットの内容、Agilentベクトル・ネットワーク・アナライザに対する校正キットの構造要件について説明しています。
アプリケーション・ノート 2006-06-19 |
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2.46 MB
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タイム・インターバル測定の基礎
カウンタを使用したタイム・インターバル測定を説明したアプリケーション・ノートです。説明されている製品は古いのであまり役に立ちませんが、基礎を勉強される方には有益な情報が掲載されています。
アプリケーション・ノート 2006-06-06 |
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1009 KB
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AOI - A Strategy for Closing the Loop
This paper describes a set of defect prevention solutions centered on the availability of high-quality inspection and measurements data from an AOI system and a few carefully engineered software applications
アプリケーション・ノート 2006-04-16 |
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291 KB
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